目錄:天津市拓普儀器有限公司>>物理教學儀器>>工程光學實驗>> TPY-1型天津拓普橢圓偏振測厚儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
產品特點：
儀器采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率，具有精度高、靈敏度高以及方便測量等特點；
光源采用氦氖激光器，功率穩(wěn)定、波長精度高；
儀器配有生成表、查表以及精確計算等軟件，方便用戶使用。
規(guī)格與主要技術指標：
測量范圍：薄膜厚度范圍：1nm-300nm；
折射率范圍：1-10
測量zui小示值：≤1nm
入射光波長：632.8nm
光學中心高：80mm
允許樣品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm
偏振器方位角范圍：0°- 180°讀取分辨率為0.05°
測量膜厚和折射率重復性精度分別為：±1nm和±0.01
入射角連續(xù)調節(jié)范圍：20°- 90°精度為0.05°
主機重量：25kg
成套性：主機、電控系統(tǒng)、計算軟件
外形尺寸：680*390*320mm
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