紫外近紅應(yīng)用-薄膜測量

閱讀：3359 發(fā)布時(shí)間：2014-8-20

實(shí)驗(yàn)三紫外可見反射薄膜測量

目的：研究薄膜的光學(xué)透射性能

檢測:不同金屬薄膜在紫外可見近紅外的光譜

原理：研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性

試驗(yàn)方法：

采用紫外可見近紅外分光光度計(jì)中波長掃描方式，做基線，后測定樣品

測定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見區(qū)光學(xué)性能不同

圖表 1 不同位置反射率

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