TRACKER HTHP 350高溫高壓
東方德菲儀器參加FOM2010學(xué)術(shù)年會設(shè)備展覽會取得圓滿成功
FOM2010是由Focus On Microscopy 協(xié)會主辦的學(xué)術(shù)年會,它是世界光學(xué)顯微專業(yè)人士的盛會,是一個展示的科研成果并交換學(xué)術(shù)思想的平臺,展會與研討會同期舉行,我公司非常榮幸地被邀請參加了此次*的光學(xué)顯微會專業(yè)會議的設(shè)備展覽會。此展覽會已于2010年3月28至31日在上海廣大會展中心舉行,在展覽會上我們展出了我公司代理的奧地利alicona公司的全自動變焦三維粗糙度輪廓儀,取得了展覽的圓滿成功。