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霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)
點(diǎn)擊次數(shù)：446 發(fā)布時(shí)間：2024-8-20
【實(shí)驗(yàn)背景】
置于磁場(chǎng)中的載流體，如果電流方向與磁場(chǎng)垂直，則在垂直于電流和磁場(chǎng)的方向會(huì)產(chǎn)生一附加的橫向電場(chǎng)，稱為霍爾效應(yīng)。
如今，隨著半導(dǎo)體物理學(xué)的迅速發(fā)展，霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的測(cè)量已成為研究半導(dǎo)體材料的主要方法之一。霍爾效應(yīng)不但是測(cè)定半導(dǎo)體材料電學(xué)參數(shù)的主要手段，而且隨著電子技術(shù)的發(fā)展，利用該效應(yīng)制成的霍爾器件，由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、頻率響應(yīng)寬(高達(dá)10GHz)、壽命長、可靠性高等優(yōu)點(diǎn)，已廣泛用于非電量測(cè)量、自動(dòng)控制和信息處理等方面。
【實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?/span>
1． 通過實(shí)驗(yàn)掌握霍爾效應(yīng)基本原理，了解霍爾元件的基本結(jié)構(gòu)；
2． 學(xué)會(huì)測(cè)量半導(dǎo)體材料的霍爾系數(shù)、電導(dǎo)率、遷移率等參數(shù)的實(shí)驗(yàn)方法和技術(shù)；
3． 學(xué)會(huì)用“對(duì)稱測(cè)量法"消除副效應(yīng)所產(chǎn)生的系統(tǒng)誤差的實(shí)驗(yàn)方法。
4． 學(xué)習(xí)利用霍爾效應(yīng)測(cè)量磁感應(yīng)強(qiáng)度B及磁場(chǎng)分布。
【實(shí)驗(yàn)儀器】
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必須預(yù)先掌控的，因此霍爾效應(yīng)測(cè)試儀是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必*的工具，主要用于測(cè)量電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或固體材料均可。