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日本SUNX神視用于液晶工業(yè)的光纖FD-L40系列
  • 日本SUNX神視用于液晶工業(yè)的光纖FD-L40系列

貨物所在地:上海上海市

地: 日本

更新時(shí)間:2024-10-18 21:00:07

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日本SUNX神視用于液晶工業(yè)的光纖FD-L40系列限定反射型光纖FD-L406種用于玻璃電路板搬運(yùn)裝置的光纖系列即使薄玻璃電路板也能精確繪圖由于采用*的大透鏡,即便是薄玻璃電路板也能從側(cè)面直接檢測(cè)。另外,由于檢測(cè)范圍寬(25±12.5mm),即使玻璃電路板在不規(guī)則位置上也可進(jìn)行穩(wěn)定繪圖。

日本SUNX神視用于液晶工業(yè)的光纖FD-L40系列限定反射型光纖FD-L406種用于玻璃電路板搬運(yùn)裝置的光纖系列

即使薄玻璃電路板也能精確繪圖

由于采用*的大透鏡,即便是薄玻璃電路板也能從側(cè)面直接檢測(cè)。另外,由于檢測(cè)范圍寬(25±12.5mm),即使玻璃電路板在不規(guī)則位置上也可進(jìn)行穩(wěn)定繪圖。

可檢測(cè)0.5mm的玻璃電路板

 

可用于各種玻璃電路板

各種玻璃邊形狀如R表面和C表面都可獲得大光量,因而盒內(nèi)玻璃電 路板的精確繪圖成為可能。除了清晰的玻璃外,有黑色或黃色涂層的玻璃也可檢測(cè)。即時(shí)反射便較差也能檢測(cè)

可用于各種玻璃的電路板

 

 

校準(zhǔn)光纖-FD-L43,F(xiàn)D-L45

即使的彎曲±8°也能穩(wěn)定檢測(cè)

 
隨著玻璃電路板的大型化,其彎曲量也因此變大,但至少有一種可應(yīng)用于左右彎曲±8°(FD-L45為±6°)的電路板。

即使的彎曲±8°也能穩(wěn)定檢測(cè)

 

寬范圍、高精度檢測(cè)

檢測(cè)距離為3~17mm(FD-L45為10~ 2 5 m m ) , 且由于定位誤差在0.2mm以下,因此可進(jìn)行更高精度的檢測(cè)。

寬范圍、高精度檢測(cè)

 

 

校準(zhǔn)光纖-FD-L43,F(xiàn)D-L45

檢測(cè)距離0~7mm

以比以往更小的尺寸達(dá)到了同類(lèi)中zui長(zhǎng)的檢測(cè)距離,用于座式確認(rèn)十分理想,即使對(duì)彎曲的玻璃電路板也可提供穩(wěn)定的檢測(cè)性能。

檢測(cè)距離0~7mm 

 

備有短距離型FD-L44S尺寸極小,節(jié)省空間FD-WL48

以W7.2H7.5D2mm的極小尺寸收錄于限定反射光學(xué)系統(tǒng)中。此外,在無(wú)法確保安裝空間的場(chǎng)所、裝置中也可設(shè)置,從而大大擴(kuò)展了其用途。
 

詳細(xì)參數(shù)

詳細(xì)參數(shù)

 

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