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PARAM博每 測厚儀【產品編號】CHY-C2
| 參考價 | 面議 |
- 型號
- 品牌
- 廠商性質 經銷商
- 所在地 上海市
更新時間：2016-04-09 09:52:25瀏覽次數：1582
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【產品名稱】PARAM博每 測厚儀
【產品編號】CHY-C2
【產品描述】
專業(yè)：
CHY-C2 測厚儀采用接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，保證了測試的規(guī)范性和準確性。
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制。
測試過程中測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數據查看。
系統(tǒng)支持數據實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果。
配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數據*性。
實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷。
標準的RS232接口，便于系統(tǒng)的外部連接和數據傳輸。
支持Lystem™實驗室數據共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結果和試驗報告。
測試標準：
該設備滿足多項國家和標準：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。
測試應用：
基礎應用：
薄膜薄片：適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試。
紙張：適用于紙張、紙板的厚度測試。
固體電絕緣體：適用于固體電絕緣體的厚度測試。
紡織、無紡布材料：適用于紡織材料的厚度測試。
箔片、硅片、金屬片：適用于箔片、硅片、金屬片的厚度測試。
擴展應用：
量程擴展至5，10mm：適用于測試薄膜、片材的厚度。
測量頭為曲面：滿足場合的厚度測試。
技術指標：
| 指標 | 參數 |
| 分辨率 | 0.1 μm |
| 測量速度 | 10 次/min （可調） |
| 測試壓力 | 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張） |
| 負荷量程 | 0～2 mm（常規(guī)） 0～6 mm；12 mm（可選） |
| 接觸面積 | 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張） |
| 外形尺寸 | 300 mm（L）× 275 mm（W）× 300mm（H） |
| 電源 | AC 220V 50Hz |
| 凈重 | 33kg |
產品配置：
標準配置：主機、微型打印機、標準量塊一件。
選購件：專業(yè)軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼。
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