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[供應(yīng)]LY.4-DSY-II-單晶少子壽命測試儀
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  • LY.4-DSY-II-單晶少子壽命測試儀
貨物所在地:
北京北京市
產(chǎn)地:
北京
更新時(shí)間:
2022-06-24 21:00:06
有效期:
2022年6月24日 -- 2022年12月24日
已獲點(diǎn)擊:
93
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單晶少子壽命測試儀


簡介

特點(diǎn):

*.用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。   本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法   的原理設(shè)計(jì),由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放   大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品   臺共五部份組成;
*.測試單晶電阻率范圍:>10Ω.cm
*可測單晶少子壽命范圍:20μS-5000μS;

 

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