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真空集成的低溫STM/AFM顯微鏡,解決樣品非原位測試

時間:2017-8-9閱讀:1840

    繼2016年底超高真空無液氦低溫STM/AFM系統(tǒng)PanScan Freedom-LT在中科院物理所張建軍教授實驗室順安裝并通過驗收后,該系統(tǒng)于本月成功與套MBE(分子束外延)系統(tǒng)實現(xiàn)真空互聯(lián)。這是PanScan Freedom-LT第二次在國內(nèi)實現(xiàn)真空集成,凸顯了PanScan Freedom-LT在該方面的顯著勢。這次真空集成設計和接口模塊均由美國RHK Technology公司提供,充分展現(xiàn)了其在大型真空設備互聯(lián)方面的豐富經(jīng)驗和用心服務客戶的良好精神。

互聯(lián)的無液氦低溫STM/AFM(PanScan Freedom-LT)與MBE系統(tǒng) 

    PanScan Freedom-LT因其異的隔振性能,以及無液氦制冷的操作簡便性,非常適合在復雜超高真空系統(tǒng)中進行集成。即使實驗環(huán)境中有機械泵,分子泵,冷凝泵,以及空氣壓縮機等強噪聲源,PanScan Freedom-LT仍然能夠保持低的噪音水平,得到原子分辨圖像。中科院張建軍教授課題組集成的半導體薄膜MBE以及PanScan Freedom-LT(低溫STM/AFM),具備表面材料zui*的制備和表征手段,是研究薄膜材料和微納器件的強大武器。

     此次真空互聯(lián)解決了樣品非原位傳輸過程中樣品易受外界環(huán)境污染的問題,為獲取高質量的實驗結果提供了有力保證。我們期待張建軍教授課題組在未來的科學研究工作中取得更大的成就!

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