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高精度薄膜測厚儀(0.001μm)
型號:DRK-204C
薄膜檢測儀對薄膜,測量厚度、均勻性、薄膜彈性模量等,并且可以與計(jì)算機(jī)連接通訊,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)自動處理,從而提高了檢驗(yàn)速度,了檢測人員的勞動強(qiáng)度。該儀器對環(huán)境溫度波動不敏感,經(jīng)濟(jì)實(shí)用,適合于%種薄膜企業(yè)的,控制和計(jì)量檢測單位或的檢測使用。
構(gòu)成: 由光電傳感器、測量座、抬落、數(shù)顯表等部分組成。
特點(diǎn):檢定快速,準(zhǔn)確。測量值由數(shù)顯表直接顯示,讀數(shù)方便,減少人為讀數(shù)誤差;%特的設(shè)計(jì)使儀器結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性很高,溫度穩(wěn)定性很好;測量重復(fù)性好,漂移量很小??蓪?shí)現(xiàn)位置清零、
公/英制轉(zhuǎn)換、預(yù)先置數(shù)、自動求,值和,值等多種功能;可通過與計(jì)算機(jī)連接通訊實(shí)現(xiàn)測量結(jié)果的自動記錄、自動處理、打印及統(tǒng)計(jì)分析等;對環(huán)境溫度波動相對不敏感,現(xiàn)有基層計(jì)量室不
提高溫控要求即可使用。
主要參數(shù)
數(shù)顯分辨率:0.001μm
示值誤差:±(0.4+0.04L)μm
測量范圍:0-10mm