1. 產(chǎn)品名稱

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

2.　產(chǎn)品型號(hào)

COK-150-3H

3. 試樣限制

本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。

4. 容積、尺寸和重量

4.1. 內(nèi)容積

150L

4.2. 內(nèi)箱尺寸

500*600*500（W*H*D）

4.3.外型尺寸（約）

1900*2000*1640mm  （W*H*D）

4.4. 重  量

/

5. 性能指針

5.1. 測(cè)試環(huán)境條件

環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下

5.2. 測(cè)試方法

GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備

5.3. 高溫室

5.3.1. 預(yù)熱溫度范圍

+40℃～+200℃

5.3.2. 升溫時(shí)間

+60℃→+150℃ ≤50min

注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

5.4. 低溫室

5.4.1. 預(yù)冷溫度范圍

-65℃～-10℃

5.4.2. 降溫時(shí)間

+20℃ → -60℃≤80min

注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

5.5. 試驗(yàn)室（試樣區(qū)）

5.5.1. 試驗(yàn)方式

氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換2溫區(qū)或3溫區(qū)

5.5.2. 溫度沖擊范圍

-40～+150 ℃

5.5.3. 溫度波動(dòng)度

&plsmn;0.5℃

5.5.4. 溫度偏差

&plsmn;2.0℃

5.5.5. 溫度恢復(fù)時(shí)間

5.5.6. 恢復(fù)條件

≤5min

試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè)