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PXUT-330N探傷儀?雙晶探頭調(diào)試方法
點(diǎn)擊次數(shù)：1896 發(fā)布時(shí)間：2023-12-25
PXUT-330N探傷儀雙晶探頭調(diào)試方法
雙晶探頭調(diào)試方法：
所選探頭和試塊如下：
1．雙晶探頭：5P20FG F10
2．試塊：階梯試塊
現(xiàn)簡(jiǎn)要介紹以上功能的實(shí)現(xiàn)步驟。
一． 開機(jī)
開啟儀器電源開關(guān)，按<?>鍵進(jìn)入探傷界面，將探頭分別與儀器的收發(fā)端連接，使儀器處于正常工作狀態(tài)。
二．選擇通道號(hào)
按<通道>鍵，在“通道"調(diào)節(jié)狀態(tài)下再按<＋>或<－>鍵，選擇某一通道。
三．參數(shù)清零
直接按初始化的快捷鍵（或者按<設(shè)置>鍵，選擇“1 功能菜單"，再選“0 初始化"），選擇“1當(dāng)前通道"，清除當(dāng)前通道。
四．設(shè)置參數(shù)
在設(shè)置菜單中，設(shè)置探頭類型為“雙晶探頭"，探頭頻率為5MHz，晶片尺寸為20.0，按<確定>鍵退出菜單。
五．調(diào)試
（一）測(cè)零點(diǎn)（測(cè)聲速）
按<零點(diǎn)>鍵，選“1.自動(dòng)測(cè)試"。預(yù)置工件聲速為“5900m/s"，一次回波聲程輸入12mm，二次回波聲程為24mm，（或選擇與探頭焦點(diǎn)深度相近的試塊上兩處底波作為一次聲程與二次聲程），按<確定>鍵開始測(cè)試。將探頭放置于階梯試塊上深12mm處。由于雙晶探頭零點(diǎn)較長(zhǎng)，目標(biāo)回波可能不在門內(nèi)，甚至不在屏幕顯示范圍內(nèi)，此時(shí)可調(diào)節(jié)門位或聲程，使回波處于門內(nèi)，再按<返回>鍵恢復(fù)零點(diǎn)測(cè)試狀態(tài)。當(dāng)其一次回波出現(xiàn)在進(jìn)波門內(nèi)時(shí)確認(rèn)，穩(wěn)住探頭不動(dòng)，等12mm處二次回波上升至80%時(shí)（一般二次回波已預(yù)置在門內(nèi)）再次確認(rèn)。
（二）雙晶探頭DAC
如需制作DAC曲線，在零點(diǎn)聲速測(cè)完后，按<DAC>鍵，根據(jù)相應(yīng)參考試塊制作。一般是由薄至厚順序制作，方法參見斜探頭DAC法。
注： 雙晶探頭存在焦點(diǎn)深度，測(cè)零點(diǎn)聲速時(shí)注意選取與焦點(diǎn)深度接近的試塊作為一次聲程，否則測(cè)得的零點(diǎn)聲速誤差可能較大。
因?yàn)榻裹c(diǎn)附近的回波最高，由薄至厚制作DAC曲線，所做出曲線與常規(guī)斜探頭DAC曲線形狀有可能不同，可能呈山峰狀。
8-4
輔助功能使用舉例：
我們利用8-1所示的探傷條件簡(jiǎn)要說明一些輔助功能的用法和效果可參照第六章，以便有更深了解。
我們先設(shè)定一些參量，進(jìn)波門位（A門位）為8mm，進(jìn)波門寬（A門寬）為54mm，進(jìn)波門高（A門高）為41%，調(diào)節(jié)增益使DAC（評(píng)定線）/AVG曲線在最大探測(cè)深度（或垂直或水平）處高為40%，對(duì)這些參量或其它參量也可根據(jù)實(shí)際情況自行設(shè)定。
一．深度補(bǔ)償
該功能啟用后，DAC曲線將變成直線，當(dāng)探頭在工件上掃查時(shí)，如果有缺陷，那么該回波將得到補(bǔ)償。例如：補(bǔ)償 深度處一缺陷波高為80%、當(dāng)量值為-3dB，50mm深度處(二次波)一缺陷波高僅為5%、但當(dāng)量值也為-3dB（波高太低很可能會(huì)被漏檢）,但在補(bǔ)償后它們的波高都會(huì)是80%，使漏檢的可能性大大降低。參見6-6。
二．門內(nèi)報(bào)警
在合理設(shè)定門高后，該功能可以用聲音來提醒使用者注意進(jìn)波門內(nèi)出現(xiàn)的缺陷波。選用斜探頭探傷時(shí)可將失波門高調(diào)為0%，但如果是用直探頭探傷，失波門報(bào)警的作用將大大加強(qiáng)，它可以提醒使用者注意沒有缺陷回波但也沒有工件底波（或底波過低）時(shí)的情況，而這種情況往往是由于存在大缺陷引起的。參見6-4
三．回波包絡(luò)和峰值記憶
這兩項(xiàng)功能有助于使用者尋找缺陷的最高波，判斷缺陷的性質(zhì)；并且包絡(luò)線或峰值及其參數(shù)可以存儲(chǔ)，以供報(bào)告之用。在使用包絡(luò)功能時(shí)，進(jìn)波門不要太寬，否則會(huì)影響包絡(luò)線的顯示。參見6-2、6-3。