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當(dāng)前位置：北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司>>實(shí)驗室設(shè)備>>檢測儀>> JC06-WDI硅片缺陷觀測儀
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號JC06-WDI
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時間：2025-01-31 15:47:54瀏覽次數(shù)：684次
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀
型號JC06-WDI
硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。
實(shí)時對圖像進(jìn)行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機(jī)等顯示、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；
硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等；
使硅片缺陷觀察工作簡單化，準(zhǔn)確化，同時極大程度降低此項工作強(qiáng)度；
實(shí)時對圖像進(jìn)行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機(jī)等顯示、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；
使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)*，像素較高， 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富；
傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計 ；
有效分辨率為 200 萬像素；
所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
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