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往返時(shí)間的測(cè)量有以下三種方法:
(1)測(cè)量發(fā)射波T與*次底波B1之間的時(shí)間;
(2)測(cè)量*次底波B1與第二次底波B2之間的時(shí)間;
(3)測(cè)量其后任意兩相鄰波之間的時(shí)間。
以上三種測(cè)量方式的選擇可以通過(guò)不同的電路來(lái)實(shí)現(xiàn),但它們對(duì)儀器的性能有很大的影響。如果選擇*種測(cè)量方法,則因發(fā)射脈沖幅度特別大,且種測(cè)量方法,由于脈寬窄,能探測(cè)薄的材料,此時(shí)若用高頻探頭(10MHz),就能探測(cè)更薄的材料,因而拓寬了儀器測(cè)量下限。如果選擇第三種測(cè)量方法,效果和第二種不相上下,但數(shù)據(jù)采集較困難,且雜波較多。第二和第三種測(cè)量方法的測(cè)量電路較復(fù)雜,成本較高。我們?cè)谘兄七^(guò)程中,考慮到量程要求,采用了第二種測(cè)量方法。為了方便實(shí)現(xiàn)電路,我們?cè)诎l(fā)射超聲波的同時(shí)設(shè)計(jì)了一個(gè)計(jì)數(shù)門(mén),由門(mén)脈沖控制計(jì)數(shù)的起始位置。
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