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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
JB/T6064-B3 三花滲透試塊 不銹鋼三點(diǎn)試塊
YM-B3不銹鋼鍍鉻輻射裂紋參考試塊 （符合ASME、 JB/T4730-2005規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)要求） JB/Z6064-2006 B3型 B3型 滲透試塊（亦稱不銹鋼三點(diǎn)試塊） 是用來(lái)檢驗(yàn)滲透劑的 靈敏度和操作工藝準(zhǔn)確性驗(yàn)正的手段，該試塊以顯示放射狀裂紋的線條 多少和清晰度來(lái)判別靈敏度的級(jí)別，也可用作滲透劑對(duì)不銹鋼材料的腐 蝕性檢驗(yàn)。 使用范圍： 1、 該試片作為對(duì)探傷劑材料，探傷工藝以及人員操作水平的有效質(zhì)控手段，適用于所有滲透探傷場(chǎng)合（熒光或著色），是滲透探傷質(zhì)量控制zui常用的一種工具。 使用方法： 1、 JB/T6064-2006 B3型試塊是在鍍鉻面上有三組肉眼不易看見(jiàn)的，開(kāi)口寬度和長(zhǎng)度不等的細(xì)微輻射裂紋，分別應(yīng)于高，中，低三組滲透探傷靈敏度。 2、 滲透探傷工作班開(kāi)始時(shí)，應(yīng)將試片按所有滲透系統(tǒng)要求的工藝處理（也可在工作中將試片和被檢測(cè)零件放在一起處理），然后觀察試片上人工缺陷顯示情況：如果顯示情況正常，則可認(rèn)為探傷系統(tǒng)達(dá)到預(yù)期的靈敏度。通常。使用單位可根據(jù)所檢測(cè)對(duì)象對(duì)檢測(cè)靈敏度的要求，以試片上人工缺陷某種程度的顯示作為是否正常的校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。 3、 該試片也可分別用于對(duì)新探傷劑的選擇和驗(yàn)收或?qū)μ絺藛T操作的考核。 參考顯像圖片： 1、 每塊試塊附有顯像參考圖片一張，系由我廠II級(jí)以上探傷人員采用中高靈敏度探傷試劑對(duì)該試片實(shí)施檢驗(yàn)所得顯像記錄，可供使用單位參考使用，使用單位探傷主管部門(mén)也可自行制作所用試片對(duì)應(yīng)于本單位要求靈敏度的參考顯像圖片。 2、 對(duì)于經(jīng)常使用試片有經(jīng)驗(yàn)的探傷人員，對(duì)試片正常顯像圖案的熟悉并記憶，比使用參考顯像圖片更方便有效。 使用注意事項(xiàng)： 1、 試片使用后應(yīng)將顯像粉全部沖洗干凈，用丙酮或酒精擦洗后在這類(lèi)溶劑中浸泡至少一個(gè)小時(shí)并用于干燥待用。 2、 根據(jù)所用探傷的使用說(shuō)明書(shū)在試片上實(shí)施探傷程序。因?yàn)橹絺麆?huì)影響熒光探傷劑的熒光作用，故對(duì)熒光，著色探傷劑應(yīng)分別備試片。 3、 試片不用時(shí)宜浸泡在酒精中或放入干燥器內(nèi)。 4、 試片使用前應(yīng)經(jīng)干燥處理。 注意： 請(qǐng)勿敲打試塊，以免引起缺陷的擴(kuò)展，影響檢測(cè)的對(duì)比性和靈敏度
JB/T6064-B3 型 不銹鋼三點(diǎn)試塊 JB/T6064-B5不銹鋼五花試塊
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