可程式高低溫試驗(yàn)箱的高溫控制方面采用了獨(dú)立系統(tǒng)，不影響低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)及交變的工作試驗(yàn)過(guò)程，在溫濕度控制采用P . I . D S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試；測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求，在本產(chǎn)品的箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。

可程式高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn):
 

1、具有RS-232或RS-485遠(yuǎn)程通訊界面，HD80高低溫試驗(yàn)機(jī)可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)等功能

2、箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，便于清晰觀察樣品的試驗(yàn)情況；

3、控制器具有熒屏自動(dòng)屏保功能，在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行狀態(tài)下更好的保護(hù)液晶屏(使其壽命更長(zhǎng)久)

4、本試驗(yàn)箱回風(fēng)口具有自動(dòng)除霜裝置(這樣才能使試驗(yàn)時(shí)產(chǎn)生的水蒸氣不會(huì)聚集在制冷蒸發(fā)器上

降溫時(shí)啟動(dòng)R404A 、R23，除濕時(shí)只啟動(dòng)R404A(節(jié)能降耗)

5、設(shè)備采用國(guó)內(nèi)*新圓弧型設(shè)計(jì)，使設(shè)備外觀整體美觀大方；

6、外型整體美觀大方，保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性好等特點(diǎn)；

7、本設(shè)備具有合理的風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng)，使得箱體內(nèi)溫度達(dá)到zui高均勻性；

8、箱體的外殼采用冷軋鋼板靜電噴涂，內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)SUS304B不銹鋼板，厚度T1.5mm，底部加有“工”字槽綱，從而加固設(shè)備的承重量；

具有自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定

9、控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示

10、測(cè)試引線孔在工作室左側(cè)，使用時(shí)可打開(kāi)孔蓋；

11、HD80高低溫試驗(yàn)機(jī)具有100組程式、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定zui大值為99小時(shí)59分

12、資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)

 規(guī)格型號(hào)廠家參數(shù):

零部件結(jié)構(gòu):

1.箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。

2.*溫控儀表(恒定溫?zé)嵯涑?輸入方式PT100傳感器

3.系統(tǒng)管路均作通氣加壓48H撿漏測(cè)試.

4.箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

5.大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。

6.干燥過(guò)濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進(jìn)口原裝件

7.機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪

8.高溫*獨(dú)立系統(tǒng)，不影響低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)及交變

9.內(nèi)膽為優(yōu)質(zhì)進(jìn)口不銹鋼板，外殼為A3鋼板靜電噴涂。

 出廠標(biāo)準(zhǔn):

· GB 10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

· GB 10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

· GB 11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

· GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

· GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

· GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

· GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

· GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

· GBT 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

· GBT 2423-3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  恒定高低溫濕熱