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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

PRODUCT DISPLAY

當(dāng)前位置：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司>>產(chǎn)品展示

  • MESA系列 磁性測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    SHB自1976年以來，Instruments一直在生產(chǎn)一系列行業(yè)主導(dǎo)的磁性測量系統(tǒng)。與其他競爭產(chǎn)品不同的是，臺面系列采用最新的全數(shù)字電路和信號處理技術(shù)進(jìn)行測量
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    磁性測量MESASHB
    2024/11/9 16:04:071118

  • WLA-5000 - 磁傳感器晶圓水平儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    分析磁性薄膜和傳感器的性能對磁性傳感器的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)至關(guān)重要，ISI的WLA-5000磁性傳感器分析儀結(jié)合了ISI專有的測量電子設(shè)備、電源、探針卡、控制器和磁鐵，...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    水平儀磁傳感器
    2024/11/9 16:01:511100

  • WLA-3000 晶圓水平儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    分析磁膜性能對磁傳感器的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)至關(guān)重要，WLA-3000自動晶圓液位分析儀可以與各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的自動晶圓探針集成，以表征成品器件或測試結(jié)果（包括橋接配置）的磁...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓水平儀磁傳感器測試
    2024/11/9 16:00:001000

  • 組裝和檢查紅外系統(tǒng) 定心儀（偏心儀） 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：LAS系列
    定心儀具有綠色（520nm）激光反射光模塊，533mm垂直直線聚焦運(yùn)動，微步進(jìn)電機(jī)和高精度旋轉(zhuǎn)編碼器
    型號： LAS系列 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    組裝和檢查紅外系統(tǒng)
    2024/11/9 15:54:151788

  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測
    2024/12/18 13:38:331416

  • UltraFilm薄膜測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜測量同質(zhì)膜厚全自動檢測
    2024/11/26 17:16:591660

  • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導(dǎo)體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。 藉由先進(jìn)的光學(xué)器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    晶圓厚度測量FR-Ultra半導(dǎo)體測量半導(dǎo)體材料
    2024/11/9 15:45:581127

  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:271952

  • QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    專為測量旋轉(zhuǎn)對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計(jì)，如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    旋轉(zhuǎn)剖面儀OATI輪廓儀形貌儀
    2024/11/9 15:42:531091

  • QuickPRO-3D--表面輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    適用于光學(xué)、工業(yè)和半導(dǎo)體市場的高速、中精度、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的表面輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配制點(diǎn)和線傳感器），為在線過程測量和控制而設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊，易于上...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    輪廓儀表面測量3D形貌儀白光干涉輪廓儀
    2024/11/9 15:41:001532

  • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動控制平臺相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    應(yīng)力測量光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:36:491037

  • iFocus晶圓檢測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    長川晶圓檢測iFocus晶圓缺陷檢測STI
    2024/11/9 15:34:221751

  • 自動化SmartNIL紫外納米壓印光刻系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：EVG720
    長達(dá) 150 毫米的自動化全場紫外納米壓印解決方案，采用 EVG 專有的 SmartNIL 技術(shù)
    型號： EVG720 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    EVG720納米壓印光刻
    2024/11/9 15:30:181231

  • FR-Mic：全自動帶顯微鏡多點(diǎn)測量膜厚儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2024/11/9 15:28:141194

  • FR-pRo：Thetametrisis膜厚測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴(kuò)展平臺的光學(xué)測量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:26:251494

  • FR-Scanner：自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:24:541288

  • FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀膜厚儀FR-InLine岱美儀器
    2024/12/18 14:04:391388

  • -自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:21:02642

  • 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Ultra
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號： FR-Ultra 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:19:311094

  • 精簡薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-ES
    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。
    型號： FR-ES 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜測厚儀
    2024/11/9 15:17:031158

  • Dymek岱美儀器分步重復(fù)納米壓印光刻機(jī) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：EVG770 NT
    我們的EVG770分步重復(fù)納米壓印光刻機(jī)是用于步進(jìn)式納米壓印光刻的通用平臺，可用于有效地進(jìn)行母版制作或?qū)迳系膹?fù)雜結(jié)構(gòu)進(jìn)行直接圖案化。這種方法允許從蕞大50 ...
    型號： EVG770 NT 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    EVG770 NTEVG770納米壓印光刻機(jī)
    2024/11/9 15:15:221566

  • 自動化臨時鍵合系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：EVG850 TB
    EVG850 TB-自動化臨時鍵合系統(tǒng) EVG鍵合機(jī) 全自動的臨時鍵合系統(tǒng)（晶圓鍵合機(jī)）可在一個自動化工具中實(shí)現(xiàn)整個臨時鍵合過程-從臨時鍵合劑的施加，烘焙，將設(shè)...
    型號： EVG850 TB 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    自動晶圓鍵合對準(zhǔn)機(jī)晶圓鍵合對準(zhǔn)機(jī)鍵合對準(zhǔn)機(jī)鍵合對準(zhǔn)機(jī)價格
    2024/11/9 15:13:441564

  • 掩模對準(zhǔn)光刻機(jī)系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Dymek岱美儀器EVG620 NT
    EVG620 NT以其多功能性和可靠性而著稱，在蕞小的占位面積上結(jié)合了優(yōu)良的對準(zhǔn)功能和蕞優(yōu)化的總體擁有成本，提供了優(yōu)于其他品牌的掩模對準(zhǔn)技術(shù)。它是光學(xué)雙面光刻的...
    型號： Dymek岱美儀器... 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    納米壓印EVG620光刻系統(tǒng)
    2024/11/9 15:06:011677

  • FPD Photomask缺陷檢查裝置 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：LODAS™ – LI系列
    LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
    型號： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對比
    FPD Photomask缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:02:361505
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