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X射線光電子能譜儀的發(fā)展簡史及基本原理

時間:2015-7-28閱讀:1198
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 1887年,海因里希·魯?shù)婪?middot;赫茲發(fā)現(xiàn)了光電效應,1905年,愛因斯坦解釋了該現(xiàn)象(并為此獲得了1921年的諾貝爾物理學獎)。兩年后的1907年,P.D. Innes用倫琴管、亥姆霍茲線圈、磁場半球(電子能量分析儀)和照像平版做實驗來記錄寬帶發(fā)射電子和速度的函數(shù)關系,他的實驗事實上記錄了人類*條X射線光電子能譜。其他研究者如亨利·莫塞萊、羅林遜和羅賓遜等人則分別獨立進行了多項實驗,試圖研究這些寬帶所包含的細節(jié)內容。XPS的研究由于戰(zhàn)爭而中止,第二次世界大戰(zhàn)后瑞典物理學家凱·西格巴恩和他在烏普薩拉的研究小組在研發(fā)XPS設備中獲得了多項重大進展,并于1954年獲得了氯化鈉的首條高能高分辨X射線光電子能譜,顯示了XPS技術的強大潛力。1967年之后的幾年間,西格巴恩就XPS技術發(fā)表了一系列學術成果,使XPS的應用被世人所*。在與西格巴恩的合作下,美國惠普公司于1969年制造了世界上*商業(yè)單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾物理學獎,以表彰他將XPS發(fā)展為一個重要分析技術所作出的杰出貢獻。
X射線光子的能量在1000~1500ev之間,不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發(fā)出來,內層電子的能級受分子環(huán)境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小,故它是特征的。光子入射到固體表面激發(fā)出光電子,利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。
XPS的原理是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量,以光電子的動能/束縛能binding energy,(Eb=hv光能量-Ek動能-w功函數(shù))為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。X射線光電子能譜因對化學分析zui有用,因此被稱為化學分析用電子能譜(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)

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