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便攜式膜厚測試儀CMI250X射線熒光測厚儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
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- 已獲點擊：
- 2024年9月22日
- 2025年3月22日
- 廣東深圳市
- 美國
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【產品簡介】
【詳細說明】
便攜式膜厚測試儀CMI250X射線熒光測厚儀
深圳市方源儀器提供的便攜式膜厚測試CMI250X射線熒光測厚儀有著測量結果、日期及時間、統(tǒng)計分析等儲存后可通過連接線發(fā)送到您的電腦技術。該儀器還支持雙功能技術磁感應和渦流感應，渦流技術測量如鋁、黃銅或銅等有色金屬上的非導電涂層：特富龍、搪瓷、環(huán)氧樹脂、陽極氧化膜、粉末涂料、油漆等。磁感應技術用于測量鋼鐵底材上的非磁性涂層：鋅、鎘、油漆、涂料等。
便攜式膜厚測試儀CMI250X射線熒光測厚儀參數：
| 產品名稱：膜厚測試儀CMI250 產品型號：CMI250 產品產地：美國 測試范圍：0.001-2.04mm（0.1-80mils）、0.001——1.52mm（0.1-60mils) 測試精度：參考不同的標準片±（2µm+3%讀數） 測試時間：2S 保修時間：1年 測試標準： （磁感應）符合AST M B499和B530、DIN 50981、ISO 2178及BS 5411標準第9和11部分的計量方法 （渦流感應）符合AST M B244和B529、DIN 50984、ISO 2360及BS 5411標準第3部分的計量方法 |
產品優(yōu)勢： | |
--自動識別底材 | |
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