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面銅膜厚儀測厚儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2024年9月22日
- 2025年3月22日
- 廣東深圳市
- 美國
- 406次
【產(chǎn)品簡介】
【詳細(xì)說明】
面銅膜厚儀測厚儀
深圳市方源儀器有限公司提供的這款多用途的面銅膜厚儀測厚儀配有探針防護(hù)罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測。它可測試高/低溫的PCB銅箔，專為PCB銅箔制造商設(shè)計(jì)。
儀器配置：
CMI165主機(jī)、SRP-T1探頭、NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片。
的優(yōu)勢特點(diǎn)：
●耗損的SRP-T1探頭可自行更換，
●儀器具有照明功能方便測量時(shí)定位，
●SRP-T1探頭具有透明保護(hù)罩防止探針損壞和測量時(shí)定位，
●儀器具有溫度補(bǔ)償功能，測量結(jié)果不受溫度影響；即使剛從電鍍槽中取出的PCB也可即時(shí)測量，
●儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)，現(xiàn)場無需校正，
●使用普通AA電池供電，一定時(shí)間不操作自動(dòng)關(guān)閉儀器，
●測試數(shù)據(jù)通過USB2.0和特定軟件實(shí)現(xiàn)高速傳輸至電腦，可保存為Excel文件（選配功能）。
工作原理：
應(yīng)用良好的微電阻測試技術(shù)，符合EN14571測試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成，AB為正極CD為負(fù)極；測量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻，通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。
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