冠乾科技（上海）有限公司
薄膜材料的納米力學(xué)測(cè)試解決方案
檢測(cè)樣品：硅基上超薄薄膜
檢測(cè)項(xiàng)目：彈性模量
方案概述：布魯克TI系列納米材料機(jī)械性能，壓痕，劃痕，摩擦磨損具有精度很高，結(jié)合原位AFM功能，可獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)，排除環(huán)境因素，底材因素。
通過研發(fā)的 xProbe超低噪音傳感探頭，可以獲得超薄涂層<10nm薄膜的機(jī)械性能。避免底材的受到機(jī)械力產(chǎn)生的形變數(shù)據(jù)影響。
相關(guān)產(chǎn)品清單
溫馨提示：
1.本網(wǎng)展示的解決方案僅供學(xué)習(xí)、研究之用，版權(quán)歸屬此方案的提供者，未經(jīng)授權(quán)，不得轉(zhuǎn)載、發(fā)行、匯編或網(wǎng)絡(luò)傳播等。
2.如您有上述相關(guān)需求，請(qǐng)務(wù)必先獲得方案提供者的授權(quán)。
3.此解決方案為企業(yè)發(fā)布，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由上傳企業(yè)負(fù)責(zé)，化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
最新解決方案
- Py-Screener系統(tǒng)篩查分析電子電氣產(chǎn)品中7種鄰苯二甲酸酯和20種溴代阻燃劑
- 光刻膠關(guān)鍵物質(zhì)-光酸劑-CAD 檢測(cè)器應(yīng)用簡(jiǎn)報(bào)
- 光刻膠關(guān)鍵物質(zhì)-光酸劑-CAD 檢測(cè)器應(yīng)用簡(jiǎn)報(bào) 三氟丁基磺酸根
- 精密鼓風(fēng)干燥箱在手機(jī)主板缺陷測(cè)試實(shí)踐
- “鄰”危受命，全面應(yīng)對(duì) | 譜育科技針對(duì)RoHS 2.0中鄰苯二甲酸酯檢測(cè)解決方案
- GNR殘余應(yīng)力分析儀EDGE對(duì)激光水平儀的測(cè)試
- MLCC用內(nèi)電極鎳漿的分散解決方案
- LISICO LS-1分散均質(zhì)分析測(cè)試儀在MLCC用鈦酸鋇漿料的應(yīng)用
- 紅外光譜法分析光刻膠的主成分
- 微波馬弗爐處理—火焰原子吸收光譜法測(cè)定廢舊電路板中金銀鉑鈀
該企業(yè)的其他方案
業(yè)界頭條
- 發(fā)生器中標(biāo)結(jié)果公告
-
項(xiàng)目名稱：福州第8.5代新型半導(dǎo)體顯示器件生產(chǎn)線項(xiàng)目，項(xiàng)目編號(hào)：4197-214BOEFZ0001/...
