2 zeta電位分析儀-流動(dòng)電位法

參考價(jià)：面議

摘要：zeta電位分析儀-流動(dòng)電位法是用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的Zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過(guò)的曲面膜或中空纖維樣品。

2 ZetaCompact視頻追蹤式Zeta電位測(cè)定儀

參考價(jià)：面議

摘要：密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測(cè)量室底部。ZetaCompact視頻追蹤式Zeta電位測(cè)定儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。

3 MÖBIUζ™Zeta電位測(cè)定儀動(dòng)態(tài)電泳光散射結(jié)合儀分子量

參考價(jià)：面議

摘要：Zeta電位測(cè)定儀動(dòng)態(tài)電泳光散射結(jié)合儀分子量用于分析Zeta電位，凈電荷以及尺寸等信息。配備自動(dòng)進(jìn)樣器或手動(dòng)進(jìn)樣器，滿足多樣化需求。使用儀器適用任何溶劑體系。測(cè)定分子尺寸，遷移率，Zeta電位及分子量；表征顆粒大小與溶液穩(wěn)定性。寬廣的溫度范圍，支持低于室溫的樣品分析：4 – 70℃；全彩色LCD實(shí)時(shí)顯示屏與數(shù)字鍵盤操作區(qū)：便于實(shí)驗(yàn)者隨時(shí)觀察結(jié)果與快速操作；

4 Zeta型進(jìn)口Zeta納米分析儀

參考價(jià)：面議

摘要：進(jìn)口Zeta納米分析儀
采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；

5 CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

參考價(jià)：面議

摘要：CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀
CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；
CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實(shí)的PSD數(shù)據(jù)；
通過(guò)粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù)，關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè)；
自動(dòng)化操作，通過(guò)一個(gè)人性化界面即可完成全部操作

6 ZetaZF400型美國(guó)MAS膠體zeta電位測(cè)定儀

參考價(jià)：面議

摘要：美國(guó)MAS膠體zeta電位測(cè)定儀采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤（樣品稀釋，Zeta電位將*改變）;該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；

7 美國(guó)MAS粒度和Zeta電位測(cè)定儀

參考價(jià)：面議

摘要：美國(guó)MAS粒度和Zeta電位測(cè)定儀,Zeta可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
此儀器容易使用、測(cè)量準(zhǔn)確。對(duì)于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。

8 ZetaPhoremeter微電泳法Zeta電位測(cè)定儀

參考價(jià)：￥11

摘要：ZetaPhoremeter微電泳法Zeta電位測(cè)定儀 即直接觀察（顯微鏡）在外加電場(chǎng)下的粒子運(yùn)動(dòng)（電泳），直接記錄遷移率，這是zeta電位測(cè)量的基準(zhǔn)方法。該儀器測(cè)量池的照明是由激光片，即由透鏡和激光結(jié)合而產(chǎn)生的單平面照明顯微鏡完成的。這種技術(shù)可以保證在一個(gè)水平平面上觀察到納米顆粒，具有*的分辨率，并采用圖像分析軟件可對(duì)5000個(gè)顆粒進(jìn)行自動(dòng)運(yùn)動(dòng)軌跡跟蹤。

2 HL8001顯微電泳儀

參考價(jià)：面議

摘要：顯微電泳儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。

3 BeNano 180 Zeta Pro納米粒度及Zeta電位分析儀

參考價(jià)：￥1000000

摘要：BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

4 Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀

參考價(jià)：面議

摘要：納米粒度及Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過(guò)測(cè)量動(dòng)態(tài)光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態(tài)光散射 （SLS） 來(lái)測(cè)定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。

5 Nicomp 380 Z3000Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀

參考價(jià)：￥300000

摘要：Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用雪崩二極管（APD）檢測(cè)器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光強(qiáng)度，APD檢測(cè)器更是增加了對(duì)微小粒子所發(fā)出信號(hào)的探測(cè)能力。利用動(dòng)態(tài)光散射理論，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。

6 Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

參考價(jià)：面議

摘要：Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量，是目前市場(chǎng)上功能Z

7 ZetaPlus型Zeta電位儀

參考價(jià)：面議

摘要：ZetaPlus Zeta電位儀是簡(jiǎn)單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器，其開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有很高的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得準(zhǔn)確而方便。

8 STABINO ZETAZETA電位分析儀

參考價(jià)：面議

摘要：通過(guò)使用STABINO ZETA電位分析儀，可實(shí)現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測(cè)試。
分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是必不可少的。當(dāng)顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。電荷測(cè)量是通過(guò)建立動(dòng)電信號(hào)來(lái)完成的。