ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實驗
- 公司名稱 憶璽智能科技(杭州)有限公司
- 品牌 YIXIST/憶璽智科
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/2/26 14:53:27
- 訪問次數(shù) 15
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實驗簡介
伴隨著21世紀初光電子技術(shù)的迅猛發(fā)展,光學(xué)薄膜器件的應(yīng)用向著性能要求和技術(shù)難度更高、應(yīng)用范圍和知識領(lǐng)域更廣、器件種類和需求數(shù)量更多的方向迅速發(fā)展。為了使學(xué)生適應(yīng)發(fā)展需求、拓展知識范圍、增加知識深度、開闊視野和提升能力,開發(fā)了光學(xué)薄膜測量綜合實驗,針對市場上常用的鍍膜片進行研究,從鍍膜的原理到實際樣品的測試,逐步深入,是學(xué)生了解光學(xué)鍍膜原理和應(yīng)用的良好實驗平臺。
ROE-RI04 # 光學(xué)薄膜測量綜合實驗內(nèi)容
光譜儀的原理與使用實驗;
白光干涉測薄膜厚度實驗;
鍍膜介質(zhì)折射率測量實驗;
單層膜特性模擬實驗;
減反射膜模擬與測試實驗;
增反射膜模擬與測試實驗;
截止濾光片模擬與測試實驗;
帶通濾光片模擬與測試實驗;
分光鏡模擬與測試實驗;
帶通濾光片的角特性實驗。
實驗知識點
減反射膜、增反射膜、金屬膜、分光鏡、二向色鏡、帶通濾光片、白光干涉、薄膜測厚、能量比、反射率、透過率.
實驗效果圖
實驗原理圖