日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000II
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 日立科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/2/25 21:40:36
- 訪問次數(shù) 6
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簡介
日立高新推出的超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000專為電子束敏感樣品和需要300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件設(shè)計。通過改進的電子槍、電子光學(xué)設(shè)計以及增強的真空性能,該設(shè)備實現(xiàn)了的低加速電壓成像效果,并配備了Super E x B能量過濾技術(shù),以更高效、靈活地收集多種信號,從而提供的電子束穩(wěn)定性和高效率的截面觀察能力。
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計。
新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計提高了低加速電壓性能。
0.4nm / 30kV(SE)
0.7nm / 1kV(SE)
0.34nm / 30kV(STEM)
用改良的高真空性能和的電子束穩(wěn)定性來實現(xiàn)高效率截面觀察。
采用全新設(shè)計的Super E x B能量過濾技術(shù),高效,靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。