ACR核磁共振成像模體

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1.產(chǎn)品介紹與結(jié)構(gòu)

A. 1.  ACR核磁共振成像模體

       ACR核磁共振成像模體是放射學(xué)會(huì)ACR認(rèn)證計(jì)劃批準(zhǔn)的模體， 尺寸為直徑8英寸 (203.2mm)， 高6.82英寸(173.4mm)的圓柱體。 內(nèi)部結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)可用于提高所測(cè)試各部位的掃描性能 ，在模體外有“ NOSE”和”CHIN”的標(biāo)識(shí)來(lái)表示掃描的方向。

單位為毫米

圖A. 1  ACR核磁共振成像模體結(jié)構(gòu)圖

2.模體主要可進(jìn)行圖像掃描和具有圖像分析功能：

B. 1.  幾何精度

       幾何精度測(cè)試評(píng)估圖像代表成像對(duì)象的真實(shí)尺寸的準(zhǔn)確性 。 它包括進(jìn)行模體長(zhǎng)度和直徑的測(cè)量 ，在模體中容易識(shí)別的位置之間 ，并將結(jié)果與已知的模體尺寸進(jìn)行比較。故障意味著測(cè)量的尺寸與真實(shí)尺寸的差異遠(yuǎn) 遠(yuǎn)超過(guò)通常的正常工作的掃描儀。

       使用 ACR矢狀面定位器圖像和ACR軸向T1系列的切片1和切片5來(lái)評(píng)估幾何精度 。在切片5中構(gòu)建插入物的材 料因制造模體的日期而不同 。對(duì)于較老的大型ACR模體， 切片5將由一個(gè)網(wǎng)格組成 。 中型模體和較新的大型模體將有一個(gè)丙烯酸插入與等間距的孔。 兩個(gè)插入件的功能是相同的， 以指導(dǎo)測(cè)量。

B.2.  高對(duì)比度的空間分辨率

       高對(duì)比度空間分辨率測(cè)試是在對(duì)比度噪聲比 (CNR) 足夠高時(shí) ，評(píng)估掃描儀分辨小物體的能力。

      該測(cè)試的失敗意味著 ，對(duì)于給定的視場(chǎng) (FOV) 和采集矩陣 ，掃描儀不能像正常工作的掃描儀那樣解決小細(xì)節(jié) 。然而， 由于臨床方案通常會(huì)進(jìn)行調(diào)整以優(yōu)化高對(duì)比度分辨率 ，如果 ACR系列的站點(diǎn)分辨率失敗 ，則將該測(cè)試應(yīng)用于站點(diǎn)系列 。 提交的圖像必須通過(guò)其中一個(gè)ACR系列或兩個(gè)網(wǎng)站系列。

B. 3.  切片厚度精度

       切片厚度精度測(cè)試評(píng)估了達(dá)到厚度的切片的精度。將規(guī)定的切片厚度與測(cè)量的切片厚度進(jìn)行比較。

       該測(cè)試的失敗意味著掃描儀產(chǎn)生的厚度與規(guī)定的厚度基本不同的切片。這個(gè)問(wèn)題通常不會(huì)孤立地發(fā)生， 因?yàn)榭赡軐?dǎo)致它的掃描儀缺陷也可能導(dǎo)致其他圖像問(wèn)題 。 因此 ，失敗的影響不僅是切片太厚或太薄 ，還可能導(dǎo)致圖像對(duì)比度差和低信噪比。

B.4.  切片位置精度

       切片位置精度測(cè)試評(píng)估了利用定位器圖像作為位置參考 ，在特定位置切片的精度。

       該測(cè)試的失敗意味著所獲得的切片的實(shí)際位置與規(guī)定位置的差異遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了一個(gè)正常運(yùn)行的掃描儀的正常水平。

B. 5.  圖像強(qiáng)度均勻

       圖像強(qiáng)度均勻性測(cè)試測(cè)量的是靠近成像體積中間的一個(gè)大區(qū)域的圖像強(qiáng)度的均勻性， 該區(qū)域通?？拷^部線圈的中心。

       頭部線圈往往具有相當(dāng)均勻的靠近線圈中心的空間靈敏度。然而 ，信號(hào)分布隨線圈的設(shè)計(jì)而變化。相位陣列線圈自然產(chǎn)生更亮的信號(hào) ，立即鄰近較小的線圈元件的外圍， 因此需要應(yīng)用強(qiáng)度或均勻性校正來(lái)通過(guò)這個(gè)測(cè)試。

       由于ACR MRAP模體充滿了導(dǎo)電溶液 ，在3特斯拉及更高的場(chǎng)強(qiáng)下 ，介電效應(yīng)顯著 。這種偽影的發(fā)生是因?yàn)?， 隨著b0的增加 ，射頻波長(zhǎng)會(huì)減小 ，直到它們接近模體的大小。從不同方向聚集在模體上的站立電子波可以在模體的不同區(qū)域產(chǎn)生破壞性干涉和建設(shè)性干涉的模式。 這通常表現(xiàn)為高電導(dǎo)率模體的中心變亮。 由于介電效應(yīng) ，建議采用與臨床圖像相同的強(qiáng)度不    均勻性校正方法來(lái)獲取模體圖像。

       均勻性測(cè)試的失敗意味著掃描儀/線圈組合在圖像強(qiáng)度上的變化明顯大于一個(gè)正常運(yùn)行的系統(tǒng)。缺乏圖像強(qiáng)度均勻性可能表明以下情況： ( 1)未使用強(qiáng)度不均勻性校正； (2)掃描儀中存在缺陷； (3)有缺陷的磁頭線圈； 和/或(4)射頻子系統(tǒng)中存在的問(wèn)題。

B.6.  信號(hào)重影

       百分比信號(hào)重影測(cè)試評(píng)估了ACR T1圖像中的重影程度 。模體是一種人工制品， 它將圖像物體的微弱副本 (模體) 疊加在圖像上 ，并從真實(shí)位置移動(dòng)。如果有許多低級(jí)的鬼魂， 它們可能無(wú)法識(shí)別為物體的副本 ，而只是從真實(shí)圖像的相位編碼方向發(fā)出的信號(hào)的涂抹。鬼影是 脈沖周期重復(fù)之間信號(hào)不穩(wěn)定的結(jié)果。 在這個(gè)測(cè)試中 ，鬼影信號(hào)電平被測(cè)量并報(bào)告為真實(shí)(主) 圖像中信號(hào)電平的百分比。

       模體在圖像的背景區(qū)域最為明顯 ，在那里應(yīng)該沒有信號(hào) ，但重影也覆蓋了圖像的主要部 分 ，改變了真實(shí)的圖像強(qiáng)度。這個(gè)測(cè)試的失敗意味著有重影偽影明顯高于在正常運(yùn)行的掃描儀中觀察到的水平。

B.7.  低對(duì)比度物體的可檢測(cè)性

       低對(duì)比度的物體可檢測(cè)性 (LCD) 測(cè)試評(píng)估了低對(duì)比度的物體在圖像中可識(shí)別的程度。 為此目的 ，模體有四個(gè)部分 ，其大小和對(duì)比度的低對(duì)比度對(duì)象都不同。

       檢測(cè)低對(duì)比度物體的能力主要由信噪比和圖像中獲得的對(duì)比度噪比 (CNR) 決定 ，并可能會(huì)因重影等偽影的存在而降低。

       CNR性能受場(chǎng)強(qiáng)的影響很大 。 臨床方案通常會(huì)根據(jù)這一點(diǎn)進(jìn)行調(diào)整 。 因此， 如果 ACR T1 和 T2 系列的低對(duì)比度物體檢測(cè)失敗 ，則將該測(cè)試應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)系列。大多數(shù)掃描 儀可以通過(guò)ACR系列的測(cè)試 ，但這足以讓掃描儀通過(guò)兩個(gè)站點(diǎn)系列。

       這個(gè)測(cè)試的失敗意味著掃描儀產(chǎn)生的圖像顯示的低對(duì)比度物體明顯少于大多數(shù)正常 功能的臨床掃描儀。通常 ，一個(gè)故障表示低信噪比。但有時(shí) ，文物 ，如重影 ，也會(huì)起到作用。

3.模體擺放位置

       擺位時(shí)需確保模體在各個(gè)方向上保持水平(圖 A. 2) ，圖像定位方法見圖 A.3。ACR推薦的必要掃描序列(表 A. 1)包括一個(gè) T1W-SE 矢狀位序列（正中定位像， FOV≥240x240 mm 2 ,   1層 ，層厚： 20 mm） ，一個(gè) T1W-SE 橫軸位序列（ FOV≥240x240 mm 2 ,   11層 ，層厚： 5mm ，層間距： 5 mm ，像素<0.9x0.9 mm2)   ,  和一個(gè) T2W-SE 橫軸位序列（ FOV≥240x240 mm 2 ,  11層 ，層厚： 5 mm ，層間距：5 mm ，像素<0 . 9x0 . 9 mm2)  。在此基礎(chǔ)上， 測(cè)試者可根據(jù)需求自行增加幾何參數(shù)保持一致的其他橫軸位測(cè)試序列。

圖A.2  模體擺位

       模體上帶有“CHIN”和“NOSE”的標(biāo)識(shí) ，便于區(qū)分方向?？捎脷馀菟絻x確保模體在各個(gè)方向上保持水平。定位時(shí)將內(nèi)置激光線對(duì)準(zhǔn)模體上表面黑色十字。

圖A.3  在模體矢狀位圖像上定義橫軸位掃描范圍

       首尾兩層剛好放置于45 °楔角交叉的中心。在橫軸位圖像上計(jì)算得出的層位準(zhǔn)確度可定量評(píng)估實(shí)際掃描的編碼層位與在定位像上定義的掃描層位的一致性。