新一代電感耦合等離子發(fā)射光譜儀

垂直雙觀測結構（DSOI）提升了靈敏度，同時降低了樣品基體效應

以一當二：炬管既可垂直又可水平放置的主機，可快速切換以滿足真正的雙向觀測要求

ORCA光路結構：同時讀取130-770nm譜線信號，和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學系統(tǒng)相比，光強度信號可提升5倍，紫外/遠紫外區(qū)的靈敏度提高


SPECTRO ARCOS型等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）超越了當代工業(yè)和科研領域金屬、化學、石化、材料等行業(yè)元素分析的要求。

MultiView設計讓使用者可以在90秒內(nèi)將垂直炬管“旋轉(zhuǎn)”成水平炬管，反之亦然。垂直炬管附加了雙觀測光路接口以增加光通量，提高了靈敏度，降低了基體效應，兩全其美。

由CMOS組成的線性陣列檢測器，無需制冷，無溢出效應，可記錄樣品基體強譜線中微弱的目標譜線信號，檢測動態(tài)范圍更寬。

SPECTRO ARCOS具有低故障、高可靠、產(chǎn)品壽命長的特點，使用成本很低。主機底座按照人體工程學設計，將無需吹掃的遠紫外密閉光路、風冷系統(tǒng)、智能閥切換（選件）、便攜式視頻裝置等多項斯派克的技術集合在一起。


新的SPECTRO ARCOS有六種機型可選，滿足客戶對觀測方式和波長范圍的各種不同要求。


SPECTRO 擁有完整的ICP光譜產(chǎn)品線，其他型號包括：SPECTROGREEN和SPECTRO GENESIS。