英國(guó)IDB Systems靜電電荷衰減計(jì)評(píng)估薄膜等 ID-946 特點(diǎn)介紹

ID946 電荷衰減計(jì)是一種通用靜電儀器，用于評(píng)估薄膜和塑料的電荷衰減特性。

測(cè)試樣品加載到儀器表面的同心環(huán)上，然后蓋上蓋子。

然后，該儀器可以獨(dú)立運(yùn)行，也可以與 PC 配合使用，以 1kV 或 5kV 的正或負(fù)測(cè)試電壓測(cè)試薄膜 - 所有電壓均可由用戶(hù)選擇。

該儀器獨(dú)立，可以獨(dú)立使用，也可以通過(guò) PC 或筆記本電腦上的 USB 進(jìn)行控制。

下載數(shù)據(jù)表

英國(guó)IDB Systems靜電電荷衰減計(jì)評(píng)估薄膜等 ID-946 規(guī)格參數(shù)

在廣受歡迎的ID-917電荷衰減測(cè)試儀取得成功的基礎(chǔ)上，ID-946是一款基于微處理器的新一代測(cè)試儀，用于通過(guò)測(cè)量材料的電荷衰減時(shí)間來(lái)評(píng)估其抗靜電性能。

ID-946總體上符合MIL-STD-30 10C中描述的測(cè)試方法4046以及IST40.2（0 1）和BS7506中描述的方法。

這些材料的抗靜電性能取決于其表面靜電電荷的消散速率，這在很大程度上由表面電阻決定，對(duì)于許多材料，可以使用表面電阻測(cè)試儀（例如ID-945）進(jìn)行測(cè)量。

然而，當(dāng)表面結(jié)構(gòu)、紋理或非常高的量級(jí)使得表面電阻測(cè)量困難時(shí)，則優(yōu)選測(cè)量電荷衰減時(shí)間。

更重要的是，此測(cè)試方法模擬了實(shí)際情況下的條件，并允許對(duì)材料的抗靜電和帶電消散性能進(jìn)行更現(xiàn)實(shí)的評(píng)估。