化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>工藝測量和檢測設(shè)備>光學(xué)薄膜測量設(shè)備>HM-A300 全自動非接觸光學(xué)薄膜厚膜檢測設(shè)備
HM-A300 全自動非接觸光學(xué)薄膜厚膜檢測設(shè)備
參考價 | ¥ 668888 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市和興盛光電有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HM-A300
- 產(chǎn)地 廣東深圳市龍華區(qū)大浪街道龍軍花園工業(yè)區(qū)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/5/21 9:33:26
- 訪問次數(shù) 78
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外觀尺寸 | 760*500*500mm | X、Y運動行程 | 200*200mm |
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有效測量范圍 | 160*160mm | 檢測重復(fù)精度 | ≦0. 5um |
掃描速度 | 30mm/s |
深圳市和興盛光電有限公司成立于2011年,致力于高精度檢測設(shè)備的技術(shù)研發(fā)和銷售。和興盛是一家以技術(shù)研發(fā)為導(dǎo)向,以應(yīng)用光譜共焦技術(shù)、激光測量技術(shù)、視覺檢測技術(shù)為核心,集精密機(jī)械、運動控制、處理軟件為一體的檢測設(shè)備集成商。
HM-A300全自動非接觸光學(xué)薄膜厚膜檢測設(shè)備,應(yīng)用于LTCC/MLCC濕膜,厚膜電阻行業(yè)膜厚,太陽能行業(yè)膜厚,蝕刻凹坑溝槽檢測。適用高反光、高透光材料,重復(fù)檢測精度≦0.5μm,測量過程中快速取樣周期30mm/s,擁有更強(qiáng)大的CPK統(tǒng)計功能,更直觀看到Xbar-R均值極差控制圖、分布概率直方圖平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、CPK等常用統(tǒng)計參數(shù)。配置吸附系統(tǒng)及高精度位移系統(tǒng),測量樣品準(zhǔn)確度更測量膜厚、線寬、平面度。