產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)、EQE、JV、IV、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng) 、CIE、色溫、光譜功率分布 λ、輻射通量、光通量、相關(guān)色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）、電功率密度、積分球

▌ 產(chǎn)品簡介

電致發(fā)光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測量。HiYield 系統(tǒng)能夠以準(zhǔn)確的檢測精度對電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；同時該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進(jìn)行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進(jìn)行測試），典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE、壽命測試、CIE、CRI、CCT、光譜響應(yīng)、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強(qiáng)度、峰值波長、FHWM等，廣泛應(yīng)用于各種類型的電致發(fā)光器件測量。

▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)

□ 能夠以準(zhǔn)確的檢測精度對電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；

□ 集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進(jìn)行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進(jìn)行測試）；

□ 由軟件控制測試過程，操作便捷，圖表和數(shù)據(jù)實(shí)時顯示；

□ 可快速、可靠對樣品的測試過程進(jìn)行追蹤；

□ 具有實(shí)時測量、預(yù)測量、定制測量、掃描測量、時間依賴測量等豐富的測量模式。

▌ 產(chǎn)品功能

□ 效率參數(shù)：發(fā)光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；

□ 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；

□ 輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長、主波長等；

□ 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等；

□ 穩(wěn)定性測試。

■ 包含測量模式

√ 電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；

√ 電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；

√ 恒壓單點(diǎn)測量；

√ 恒流單點(diǎn)測量；

√ 穩(wěn)定性測量：不同老化時間下測量。

▌ 產(chǎn)品應(yīng)用

□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）

□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）

□ 發(fā)光二極管（LED）

□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）

□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件等

▌ 規(guī)格型號

*該產(chǎn)品或參數(shù)可根據(jù)客戶需求靈活配置

▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)