賽默飛XL5 Plus  Niton手持式X熒光光譜儀  尼通XRF分析儀 應(yīng)用

•  制造過程中金屬和合金的驗證

•  無損現(xiàn)場的材料識別與檢查

•  廢品回收中的定性和定量分揀

•  表面處理控制中單層或多層涂層重量和涂層厚度的測量

•  金銀珠寶等貴金屬分析

•  采礦勘探的實時地球化學(xué)分析

•  污染土壤的現(xiàn)場重金屬篩選

•  消費品中有害物質(zhì)的篩選

•  客戶特殊定制應(yīng)用程序

賽默飛XL5 Plus  Niton手持式X熒光光譜儀  尼通XRF分析儀分析性能

旨在重現(xiàn)實驗室分析結(jié)果，Niton XL5 Plus 擁有極低的檢測極限可實現(xiàn)操作員多種應(yīng)用材料的大批量現(xiàn)場分析。識別純金屬和合金，獲取地球化學(xué)數(shù)據(jù)，篩選重金屬或確定鍍層和涂層厚度。從金屬到采礦等等一切工作，Niton XL5Plus 已準(zhǔn)備就緒。

快速的結(jié)果

Niton XL5 Plus 配備 5W X 射線管為激發(fā)源，可快速準(zhǔn)確的得到結(jié)果。升級的石墨烯窗口確保了每次測量的最佳靈敏度 - 甚至是輕元素。結(jié)果將實時顯示，使用者能夠更快地做出決策。通過標(biāo)準(zhǔn)的系統(tǒng)健康檢查，設(shè)備將更加平穩(wěn)地運行。

尺寸和重量

利用 Niton XL5 Plus， 輕松完成重工業(yè)任務(wù)。Niton XL5 Plus 重量為業(yè)界的 2.8 磅（1.3 千克），是最輕的手持式 X 射線熒光分析儀，可用于元素測定和合金鑒定 1。其占地面積小、重量輕的設(shè)計可減少操作員疲勞，同時提高生產(chǎn)率。

設(shè)計

 XL5 Plus，改良的緊湊型幾何結(jié)構(gòu)設(shè)計可在更多擴(kuò)展現(xiàn)場應(yīng)用中使用。例如分析煉油廠管道中的一個狹窄的焊縫，對于 Niton XL5 Plus 能夠更加緊密貼近焊接、拐角和接頭此類測試點不再被定義為尷尬的測試點。探測器保護(hù)裝置降低了測量尖銳物品時的風(fēng)險。

功能

生動的新圖標(biāo)和應(yīng)用程序界面簡化了導(dǎo)航和配置。電阻式觸摸屏即使是戴手套也可輕松操作。物理鍵盤輔助使用提供了備選操作方式。熱插拔電池可以在需要更換電池時不必關(guān)機(jī)繼續(xù)工作。微距相機(jī)用于更好地定位和采集測點位置。最后， 可訪問 WIFI 自動將數(shù)據(jù)傳輸?shù)?PC。