JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀
- 公司名稱 賽非特科學(xué)儀器(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/9/1 21:18:35
- 訪問次數(shù) 686
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供貨周期 | 兩周 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
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JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域,作為研究開發(fā)和分析工具被廣泛使用,其用途越來越廣。此外,在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ,地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用,礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等,期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應(yīng),在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP100能更加有效地進行觀察分析操作,是更先進的一體化EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱
JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀
◇ [Setting]
自動定位,準確安裝樣品臺!迅速找到想觀察的點!
進樣和獲取樣品臺導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠分析區(qū)域。
◇ [Analysis]
充分的自動功能,誰都可以拍到高級的SEM像
繁瑣的設(shè)定也能對應(yīng),EPMA立馬進行元素分析
光學(xué)顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結(jié)合,任誰都可以拍到高級的SEM像。
【live Analysis】
通過【live Analysis】能夠在觀察中進行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡單的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。
通過WD/ED integration,分析時間縮短的例子
integration:用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品,有效進行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時的人為失誤;利用夜間對儀器進行校正,提高了工作效率。
按照【維護通知功能】,在必要時期對儀器進行自我維護,保持設(shè)備最佳狀態(tài)。
維護通知功能【客戶支持工具】