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數(shù)字示波器、網(wǎng)絡(luò)/射頻/頻譜/矢量分析儀、信號(hào)源/信號(hào)發(fā)生器、色彩/光譜分析儀、音頻/視頻分析儀、無(wú)線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字源表/萬(wàn)用表、功率計(jì)/功率傳感器、頻率計(jì)、LCR/阻抗測(cè)量?jī)x、邏輯分析儀、天饋/天線/線纜測(cè)試儀、交直流電源、WiFi藍(lán)牙Wlan測(cè)試儀、數(shù)據(jù)采集儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、多用表校準(zhǔn)儀、靜電/皮安/電阻表、EMC/EMI測(cè)試儀、電子負(fù)載、噪聲測(cè)試儀、電工電能測(cè)試儀、半導(dǎo)體測(cè)試儀、各類電子通訊測(cè)試儀器及光學(xué)測(cè)量?jī)x等儀器儀表。

Keithley/吉時(shí)利 2602B 數(shù)字源表

2602B 是 Keithley 的 40 瓦源表。源表儀器是一種電子測(cè)試設(shè)備，可測(cè)量和記錄精確的電壓和電流數(shù)據(jù)。源儀表以高精度收集信息，非常適合電流電壓 (IV) 表征、半導(dǎo)體測(cè)試以及具有正電流源值和負(fù)電流源值的測(cè)試設(shè)備。

特征：

40V、3A、40W 雙通道型號(hào)，80W 功率輸出

緊密集成的 4 象限電壓/電流源和測(cè)量?jī)x器以 6 ? 位分辨率提供上佳的性能

內(nèi)置的基于 Java 的測(cè)試軟件可通過(guò)任何瀏覽器實(shí)現(xiàn)真正的即插即用 I/V 表征和測(cè)試。

TSP（測(cè)試腳本處理）技術(shù)將完整的測(cè)試程序嵌入儀器內(nèi)部，以實(shí)現(xiàn)上佳的系統(tǒng)級(jí)吞吐量

無(wú)需主機(jī)的多通道并行測(cè)試的 TSP-Link 擴(kuò)展技術(shù)

吉時(shí)利 2400 型數(shù)字源表 SMU 儀器的軟件仿真

USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232 和數(shù)字 I/O 接口

免費(fèi)軟件驅(qū)動(dòng)程序和開(kāi)發(fā)/調(diào)試工具

可選的 ACS-Basic 半導(dǎo)體元件表征軟件

Keithley 2600B 系列系統(tǒng) SMU 儀器是業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓源和測(cè)量解決方案，適用于高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用。 雙通道和單通道型號(hào)都緊密集成一個(gè)精密電源、真正電流源、數(shù)字萬(wàn)用表和具有脈沖生成功能的電子負(fù)載。 另外，TSP® 技術(shù)可運(yùn)行完整測(cè)試程序，適用于自動(dòng)化系統(tǒng)應(yīng)用，TSP-鏈路®技術(shù)允許菊花式鏈接最多 64 條通道，適用于大容量并行測(cè)試。

Keithley 2600B系列SMU 型號(hào)

型號(hào)通道zui大電流源/量程zui大電壓源/量程測(cè)量分辨率（電流/電壓）電源

2601B110A40V100fA / 100nV200 W

2602B210A40V100fA / 100nV200 W

2604B210A40V100fA / 100nV200 W

2611B110A200V100fA / 100nV200 W

2612B210A200V100fA / 100nV200 W

2614B210A200V100fA / 100nV200 W

2634B210A200V1fA / 100nV200 W

2635B110A200V0.1fA / 100nV200 W

2636B210A200V0.1fA / 100nV200 W

Keithley/吉時(shí)利 2602B 數(shù)字源表 概述

完整的生產(chǎn)測(cè)試，無(wú)需犧牲空間

滿足您的所有生產(chǎn)測(cè)試需求，在同一空間內(nèi)有兩條wanquan隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測(cè)量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測(cè)量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特點(diǎn)

在同一空間內(nèi)可有 2 條通道

最寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)范圍

高度準(zhǔn)確的 100 µs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測(cè)試能力

嵌入式腳本提供可觀生產(chǎn)吞吐量

測(cè)試腳本處理器 (TSP?) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測(cè)試程序，提供業(yè)界上佳性能。

特點(diǎn)

消除與 PC 之間耗時(shí)的總線通信

高級(jí)數(shù)據(jù)處理和流量控制

通用型探頭/處理程序控制

系統(tǒng)性能，無(wú)主機(jī)

TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測(cè)試（而不使用主機(jī)）。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。

特點(diǎn)

支持 <500 ns 通道間同步

可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道

隨著測(cè)試要求變化輕松重新配置

適合生產(chǎn)的低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在zui低 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

特點(diǎn)

在zui低電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時(shí)間快 7 倍

具有市面上的上佳低電流分辨率

直接三芯同軸連接簡(jiǎn)化了設(shè)置

典型應(yīng)用

各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析，包括：

分立和無(wú)源元件

– 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬 氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻

– 三抽頭器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（BJT）場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET），等等

簡(jiǎn)單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動(dòng)器、開(kāi)關(guān)、傳感 器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器

集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI） – 模擬IC

– 射頻集成電路（RFIC）

– 專用集成電路（ASIC）

– 片上系統(tǒng)（SOC）器件

光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器 （VCSEL）、顯示器

圓片級(jí)可靠性

– NBTI、TDDB、HCI、電遷移

太陽(yáng)能電池

電池

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