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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測(cè)>超聲波探傷儀>全部型號(hào) 美國(guó)GE超聲波探傷儀維修

全部型號(hào) 美國(guó)GE超聲波探傷儀維修

參考價(jià) 2500
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市泰立儀器儀表有限公司
  • 品牌 DRUCK/德魯克
  • 型號(hào) 全部型號(hào)
  • 產(chǎn)地 美國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/1/1 11:55:57
  • 訪問次數(shù) 1167

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      深圳市泰立儀器儀表有限公司成立于2005年,無損檢測(cè)儀器配套方案提供商,專業(yè)從事:磁導(dǎo)率測(cè)量、電導(dǎo)率測(cè)量、渦流漏磁、超聲、射線、金相、光譜、材料檢測(cè)...測(cè)試儀器儀表設(shè)備的代理、銷售和服務(wù)工作。并與國(guó)外杰出儀表生產(chǎn)廠商有著廣泛的技術(shù)與銷售合作的良好基礎(chǔ)。德國(guó)FOERSTER霍釋特、德國(guó)NewSonic、德國(guó)Optisense、以色列 ScanMaster、美國(guó)Dakota達(dá)高特、英國(guó)SONATEST聲納、英國(guó)ETHER NDE易德、美國(guó)GE通用、等公司的中國(guó)區(qū)銷售代理。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、電子、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)藥、能源等各個(gè)領(lǐng)域,并服務(wù)于各大企業(yè)、院校、研究所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)及政府部門等。







超聲波測(cè)厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,超聲波相控陣探傷儀,電導(dǎo)率儀,磁導(dǎo)率儀,汽車車身點(diǎn)焊檢測(cè)儀,COMET工業(yè)射線機(jī),工業(yè)內(nèi)窺鏡,工業(yè)CR/DR數(shù)字射線系統(tǒng),熱分析儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 數(shù)字式 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,汽車,電氣,綜合

美國(guó)GE超聲波探傷儀維修

承接 美國(guó)GE,德國(guó)KK 各種型號(hào)超聲波探傷儀維修


維修探傷儀950-4.jpg


 
包括:
 
USM33 超聲波探傷儀
USM33部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形

 
USM35 DAC,USM35 DGS
USM35 部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形

 
USMGO,USMGO+,USM86,USM88
部分故障類型:五位搖桿失靈,屏幕顯示黑屏和花屏,外殼損壞,無法充電,使用電池?zé)o法開機(jī),連接電源無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形

 
USN60,USN60ND,USN60 L
部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,自動(dòng)關(guān)機(jī),無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形


維修探傷儀950-3.jpg


 
美國(guó)GE超聲波探傷儀維修

承接美國(guó)GE,德國(guó)KK各種型號(hào)超聲波探傷儀維修,包括:

USM33 超聲波探傷儀
USM33部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
 
USM35 DAC,USM35 DGS
USM35 部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
 
USMGO,USMGO+,USM86,USM88
部分故障類型:五位搖桿失靈,屏幕顯示黑屏和花屏,外殼損壞,無法充電,使用電池?zé)o法開機(jī),連接電源無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
 
USN60,USN60ND,USN60 L
部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,自動(dòng)關(guān)機(jī),無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形


維修探傷儀950-1.jpg


美國(guó)GE  KK 超聲波硬度計(jì),MIC10,MIC10 DL,MIC205,MIC201,MIC2013 等全型號(hào)探頭。

 

故障代碼:

E0.0,DPROM內(nèi)部錯(cuò)誤

E0.2,在系統(tǒng)自動(dòng)檢查中發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,自檢不通過

E1.0,探頭錯(cuò)誤

E1.1,在測(cè)量中探頭操作錯(cuò)誤(接觸時(shí)間操作3秒)

E1.2,無法評(píng)估測(cè)量

E1.3,在結(jié)束規(guī)定的測(cè)量時(shí)間前探頭被連接

E2.0,讀取記憶卡時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤

E2.1,記憶卡被DynaMIC寫入

E3.0,界面沒有準(zhǔn)好

 

除以上故障,還可修復(fù)硬度計(jì)探頭測(cè)量讀數(shù)跳動(dòng)大,硬度計(jì)探頭無法被MIC10儀器識(shí)別,硬度計(jì)探頭測(cè)量后沒有硬度值顯示,硬度計(jì)MIC10顯示屏顯示不完整字符有缺損,硬度計(jì)MIC10按鍵面板按鍵失靈和損壞,MIC10硬度計(jì)外殼受損等各種故障。


MIC10-950.jpg





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