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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)>蔡司EVO 10 納米級超高分辨率掃描電鏡

蔡司EVO 10 納米級超高分辨率掃描電鏡

參考價 100
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


      本公司專注光電光學(xué),影像視覺技術(shù),形狀測量設(shè)備,并相結(jié)合AI人工智能理念研究開發(fā)光學(xué)測量設(shè)備,非標(biāo)自動化在線光學(xué)測量設(shè)備、光電智能設(shè)備,可根據(jù)客戶特殊要求制定專業(yè)解決方案。

      公司將不斷的把*的檢測設(shè)備及智能制造設(shè)備以便捷高效的方式傳達給我們的客戶,并幫助我們的客戶提高產(chǎn)品檢測能力和制造工藝。


SEM掃描電鏡、共聚焦3D顯微鏡、工業(yè)檢測顯微鏡、工業(yè)測量顯微鏡、工業(yè)內(nèi)窺鏡、高速攝像機、光學(xué)清潔度檢測系統(tǒng)、清潔度顆粒萃取設(shè)備、金相制樣設(shè)備

產(chǎn)地類別 進口 二次電子圖象分辨率 1.0 nm @ 15 kV,SE 1.5 nm @ 1 kV,SE 0.8nmnm
放大倍數(shù) 1~300,000xx 加速電壓 0.5~20 kV (30 kV可選)kV
儀器種類 六硼化鑭 應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),電子,航天,司法,汽車

便捷的可用性:

納米級超高分辨率掃描電鏡簡單易學(xué),減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本,甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持,需要自動化工作流程,以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的操作。

圖像質(zhì)量:

納米級超高分辨率掃描電鏡EVO擅長于對未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO還允許樣品保留其原始狀態(tài), 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對比度和信噪比。

智能導(dǎo)航與成像:

大大提高樣品的測試效率,以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。

蔡司導(dǎo)航相機:

相機可以安裝在倉室前方,以監(jiān)測樣品與背散射探測器以及物鏡底端之間的相對位置(倉室相機);或安裝在真空室倉門上方 (導(dǎo)航相機),利用俯視圖查看樣品臺上樣品的擺放位置。此視圖可用于設(shè)置從光學(xué)顯微鏡圖像中識別出的預(yù)定義位置, 并在整個樣品測試過程中導(dǎo)航。

自動化智能成像:

EVO實現(xiàn)了對樣品批量自動、無人值守的圖像采集。能夠自定義邊界區(qū)域,自動生成所需的視圖或放大倍數(shù)確定的感興趣區(qū)域,并開始自動獲取圖像。自動化智能成像將大大提高樣品的測試效率,以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。

使用六硼化鑭電子發(fā)射器獲得圖像:

六硼化鑭陰極相較于傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲所發(fā)射的電子能夠保證額外所需要的圖像質(zhì)量。這種優(yōu)勢體現(xiàn)在以下兩個方面:

1、在相等電子探針尺寸 (即分辨率) 下, 有更多探針電流可供使用, 從而使圖像導(dǎo)航和優(yōu)化更容易。

2、在相等的探針電流 (信噪比) 下, 光斑直徑要小得多, 從而提高了圖像分辨率。

技術(shù)參數(shù):


蔡司EVO 10

蔡司EVO 15


選擇EVO 10(可選配BSD和EDS)

EVO 15增加了對不導(dǎo)電樣品或零件的成像和分析的可變壓力模式

樣品高度

100 mm

145 mm

樣品直徑

230 mm

250 mm

電動載物臺行程XYZ

80 x 100 x 35 mm

125 x 125 x 50 mm

高真空模式 (HV)
導(dǎo)電樣品質(zhì)量的成像與分析

?

?

可變壓力模式 (VP)

不導(dǎo)電且不噴涂導(dǎo)電層樣品的高質(zhì)量成像和分析

?

?

擴展壓力模式 (EP)
含水或被污染的樣品在其自然狀態(tài)下成像

?

?

EVO 應(yīng)用案例

生產(chǎn)與裝配企業(yè):

納米級超高分辨率掃描電鏡質(zhì)量分析/質(zhì)量控制;失效分析/金相分析;清潔度檢查;顆粒的形態(tài)和化學(xué)分析, 以滿足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的標(biāo)準(zhǔn);非金屬夾雜物的分析。

電子半導(dǎo)體:

目視檢查電子元件、集成電路、MEMS 器件和太陽能電池;銅絲表面及晶體結(jié)構(gòu)的研究;金屬腐蝕研究
;斷面失效分析;Wire bonding線腳檢查;電容表面成像。

鋼鐵和其它金屬:

對金屬樣品和夾雜物的結(jié)構(gòu)、化學(xué)和結(jié)晶學(xué)進行成像和分析;相、顆粒、焊縫和失效分析。

  

原材料:

納米級超高分辨率掃描電鏡地質(zhì)樣品的形態(tài)、礦物學(xué)和成分分析;對金屬、斷裂和非金屬夾雜物的結(jié)構(gòu)進行成像和分析;微粉化和造粒過程中原料化學(xué)成分和活性成份的形態(tài)和成分分析。

材料科學(xué)研究:

用于研究導(dǎo)電和不導(dǎo)電材料樣品的特征。

生命科學(xué):

對植物、動物和微生物的研究。

司法鑒定:

槍擊殘留物(GSR);油漆和玻璃分析;痕量分析;頭發(fā)和纖維比較;法醫(yī)毒理學(xué)。









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