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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)>Verios XHR SEM 賽默飛 原FEI掃描電鏡

Verios XHR SEM 賽默飛 原FEI掃描電鏡

參考價(jià)5000000-7000000
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌FEI/賽默飛
  • 型號(hào)Verios XHR SEM
  • 所在地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024/8/28 13:00:01
  • 訪問次數(shù) 1146

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FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購(gòu),成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結(jié)合先進(jìn)的軟件套件,運(yùn)用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學(xué)和電學(xué)分析相結(jié)合,使客戶的問題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 加速電壓 1-30KVkV
價(jià)格區(qū)間 500萬(wàn)-700萬(wàn) 儀器種類 冷場(chǎng)發(fā)射
應(yīng)用領(lǐng)域 化工
  賽默飛 原FEI掃描電鏡 Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR(分辨率)SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在尖部半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中,它可在 1 至 30 kV 范圍內(nèi)提供亞納米量級(jí)分辨率以及增強(qiáng)的對(duì)比度,滿足材料精密測(cè)量所需,同時(shí)又不會(huì)削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢(shì)。
 
  Verios 的生命科學(xué)應(yīng)用
 
  觀測(cè)敏感的生物樣本時(shí),過高的成像電壓帶來(lái)的電子束會(huì)損傷樣本,從而無(wú)法在細(xì)胞研究中觀測(cè)關(guān)鍵細(xì)節(jié)。Verios XHR 掃描電子顯微鏡 (SEM) 至低可在 1kV 的電子束電壓下工作,因而能最大限度減少樣本干擾,同時(shí)又不會(huì)削弱分辨率和對(duì)比度。生物研究人員現(xiàn)在可以處理大量敏感的生物樣本,并迅速生成高分辨率圖像,從而洞察細(xì)胞器的關(guān)鍵功能和過程。
 
  
 
  賽默飛 原FEI掃描電鏡 Verios XHR SEM優(yōu)勢(shì)
 
  全新的高對(duì)比度檢測(cè)器 - 對(duì)敏感的生物樣本進(jìn)行最佳成像
 
  電子束減速 - 在極低的電壓下提供高分辨率成像和高表面靈敏度
 
  電子束熄滅裝置 - 限制敏感的生物樣本的劑量
 
  靜電掃描 - 最大限度減少圖像失真,并改善成像速度,從而進(jìn)一步提高工作效率和質(zhì)量
 
  Verios 的電子工業(yè)應(yīng)用
 
  Verios XHR SEM 推出了全新的檢測(cè)器硬件,將 SEM 的觀測(cè)能力進(jìn)一步拓展至 20 nm 亞納米量級(jí)半導(dǎo)體器件。Verios 可提供最佳的低電壓 SEM 分辨率和材料對(duì)比度,能夠讓半導(dǎo)體工藝控制實(shí)驗(yàn)室測(cè)量對(duì)電子束敏感的材料以及無(wú)法使用傳統(tǒng) SEM 儀器成像的極小結(jié)構(gòu)。Verios 還包括一些易于使用的新功能,能夠?yàn)?22 nm 技術(shù)節(jié)點(diǎn)及以下的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)提供至低的每樣本成像和測(cè)量成本。
 
  Verios 的材料科學(xué)應(yīng)用
 
  對(duì)材料科學(xué)家來(lái)說,Verios 可以將亞納米表征拓展到當(dāng)下正在開發(fā)的全新材料(例如催化劑顆粒、納米管、孔隙、界面、生物對(duì)象和其他納米量級(jí)結(jié)構(gòu)),從而讓他們獲得重要的新發(fā)現(xiàn)。無(wú)需轉(zhuǎn)而采用 TEM 或其他成像技術(shù)便可獲得高分辨率、高對(duì)比度圖像。Verios 可靈活用于各類研究應(yīng)用,能夠容納全尺寸晶圓或冶金樣本之類的大樣本。您可以在高電流模式下執(zhí)行快速分析,也可以開展精確的原型設(shè)計(jì)應(yīng)用,例如電子束感應(yīng)式材料直接沉積或光刻。
 


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