賽可(SEC)SNE-4500M Plus 臺式掃描電鏡
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海賽可檢測設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號 賽可(SEC)SNE-4500M Plus
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/2/8 8:34:56
- 訪問次數(shù) 5258
產(chǎn)品標(biāo)簽
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背散射電子圖像分辨率 | 8nm@30KV | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
二次電子圖象分辨率 | 5nm@30KVnm | 放大倍數(shù) | x12~x150,000x |
加速電壓 | 1-30KV(1,5,10,15,20,30)-6StepkV | 儀器種類 | 鎢燈絲 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,電子,制藥 |
賽可(SEC)SNE-4500MPlus臺式掃描電鏡簡介:
NE-4500MPlus是一款高性能,高配置的產(chǎn)品。
賽可(SEC)SNE-4500MPlus臺式掃描電鏡特點(diǎn):
高性能·高分辨率(5nm)臺式電鏡。
一、分辨率高
SNE-4500MPlus實(shí)現(xiàn)了落地式鎢燈絲掃描電鏡的小型化。其采用與大電鏡相同的電子光學(xué)系統(tǒng),兩級聚光鏡一級物鏡,標(biāo)配高真空和二次電子檢測器,可實(shí)現(xiàn)分辨率5nm@30kV(SE),擁有與大電鏡相媲美的性能。
二、加速電壓范圍寬
低加速電壓激發(fā)出的樣品深層電子少,可以更真實(shí)地反應(yīng)出樣品表面形貌信息;且低加速電壓對高分子材料等不耐電子束輻照的樣品損傷小。而高加速電壓可以激發(fā)出更多的電子信號,有利于能譜等分析功能。SNE-4500MPlus的加速電壓為1kV~30kV,適合各種樣品的形貌觀察及元素分析,適用范圍廣。
三、二次電子和背散射電子同時(shí)成像
二次電子圖像體現(xiàn)樣品表面的形貌信息,分辨率高,立體感強(qiáng)。背散射電子像則更多地體現(xiàn)樣品的組分和晶向信息。SNE-4500MPlus配置了二次電子檢測器和四分割背散射電子檢測器,可同時(shí)采集和顯示二次電子像和背散射電子像,并可實(shí)現(xiàn)兩種圖像疊加,方便用戶更直觀地觀察樣品的各類信息。
四、兼具高、低真空模式,自動切換
對于一些導(dǎo)電性差的樣品(如纖維)、潮濕的樣品(如植物葉片)、多孔的樣品(如水泥)、不可鍍金的不導(dǎo)電樣品(如PCB)等等,如果在高真空模式下觀察,在不鍍金的情況下往往荷電嚴(yán)重,無法觀察到理想形貌。而采用低真空模式可以解決以上問題。低真空是指在樣品倉內(nèi)通入一定量的空氣,電子束散射的一部分電子電離空氣分子,其中正電荷和不導(dǎo)電樣品表面的多余負(fù)電荷相中和達(dá)到消除荷電的目的。SNE-4500MPlus具有高真空和低真空模式,自動切換,能適應(yīng)各類樣品的觀察。
五、大樣品倉、五軸全自動馬達(dá)臺
SNE-4500MPlus標(biāo)配五軸全自動馬達(dá)臺的機(jī)型。通過鼠標(biāo)或鍵盤操作,可實(shí)現(xiàn)X、Y、Z、R(旋轉(zhuǎn))和T(傾斜)五軸的自動移動,有利于多角度精細(xì)地觀察樣品。-45°~90°大范圍的傾斜角度,可以在不更換特定樣品臺的情況下直接進(jìn)行截面觀察。
可放置的樣品尺寸為80mm(D)*50mm(H),兼容性強(qiáng),省去了制樣的麻煩。
NE-4500MPlus是一款高性能,高配置的產(chǎn)品。
賽可(SEC)SNE-4500MPlus臺式掃描電鏡特點(diǎn):
高性能·高分辨率(5nm)臺式電鏡。
一、分辨率高
SNE-4500MPlus實(shí)現(xiàn)了落地式鎢燈絲掃描電鏡的小型化。其采用與大電鏡相同的電子光學(xué)系統(tǒng),兩級聚光鏡一級物鏡,標(biāo)配高真空和二次電子檢測器,可實(shí)現(xiàn)分辨率5nm@30kV(SE),擁有與大電鏡相媲美的性能。
二、加速電壓范圍寬
低加速電壓激發(fā)出的樣品深層電子少,可以更真實(shí)地反應(yīng)出樣品表面形貌信息;且低加速電壓對高分子材料等不耐電子束輻照的樣品損傷小。而高加速電壓可以激發(fā)出更多的電子信號,有利于能譜等分析功能。SNE-4500MPlus的加速電壓為1kV~30kV,適合各種樣品的形貌觀察及元素分析,適用范圍廣。
三、二次電子和背散射電子同時(shí)成像
二次電子圖像體現(xiàn)樣品表面的形貌信息,分辨率高,立體感強(qiáng)。背散射電子像則更多地體現(xiàn)樣品的組分和晶向信息。SNE-4500MPlus配置了二次電子檢測器和四分割背散射電子檢測器,可同時(shí)采集和顯示二次電子像和背散射電子像,并可實(shí)現(xiàn)兩種圖像疊加,方便用戶更直觀地觀察樣品的各類信息。
四、兼具高、低真空模式,自動切換
對于一些導(dǎo)電性差的樣品(如纖維)、潮濕的樣品(如植物葉片)、多孔的樣品(如水泥)、不可鍍金的不導(dǎo)電樣品(如PCB)等等,如果在高真空模式下觀察,在不鍍金的情況下往往荷電嚴(yán)重,無法觀察到理想形貌。而采用低真空模式可以解決以上問題。低真空是指在樣品倉內(nèi)通入一定量的空氣,電子束散射的一部分電子電離空氣分子,其中正電荷和不導(dǎo)電樣品表面的多余負(fù)電荷相中和達(dá)到消除荷電的目的。SNE-4500MPlus具有高真空和低真空模式,自動切換,能適應(yīng)各類樣品的觀察。
五、大樣品倉、五軸全自動馬達(dá)臺
SNE-4500MPlus標(biāo)配五軸全自動馬達(dá)臺的機(jī)型。通過鼠標(biāo)或鍵盤操作,可實(shí)現(xiàn)X、Y、Z、R(旋轉(zhuǎn))和T(傾斜)五軸的自動移動,有利于多角度精細(xì)地觀察樣品。-45°~90°大范圍的傾斜角度,可以在不更換特定樣品臺的情況下直接進(jìn)行截面觀察。
可放置的樣品尺寸為80mm(D)*50mm(H),兼容性強(qiáng),省去了制樣的麻煩。