OmniProbe 350
Discover why OmniProbe 350 is the best-in-class 3-axis nanomanipulator for fast and efficient routine TEM Lamella preparation
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X射線熒光光譜儀;直讀光譜儀;涂鍍層測(cè)厚儀;顯微分析;刻蝕,沉積和生長(zhǎng);低溫恒溫器與超導(dǎo)磁體系統(tǒng);臺(tái)式磁共振(NMR)分析儀和低場(chǎng)磁共振成像(MRI);X光管和相關(guān)產(chǎn)品;低溫泵系統(tǒng)
基于第9代探針設(shè)計(jì),OmniProbe 350提供精確的納米級(jí)控制。其緊湊的端口安裝設(shè)計(jì),限度地減少與其他探測(cè)器和附件的干擾。憑借穩(wěn)定的探針平臺(tái)和亞納米壓電馬達(dá),這一代的探針具有低振動(dòng)、低漂移和的定位精度。再結(jié)合直觀的用戶界面,其運(yùn)動(dòng)方向是基于所見(jiàn)的圖像進(jìn)行校準(zhǔn)的。
其結(jié)果是為常規(guī)樣品提?。╨ift-out)提供了的性能。結(jié)合可變傾角柵網(wǎng)樣品臺(tái),OmniProbe 350可以輕松制備plan-view樣品和TKD樣品,而無(wú)需手動(dòng)處理柵網(wǎng)或復(fù)雜的多步驟提取。
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