TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡
- 公司名稱 上海磊微科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 TESCAN CLARA
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2022/12/13 14:13:20
- 訪問次數(shù) 1111
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 聚焦離子束 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子 |
TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是一款應(yīng)用廣泛的多功能掃 描電子顯微鏡,是基于成功的S8000基礎(chǔ)上進(jìn)一步 研發(fā)的,其設(shè)計(jì)更能滿足材料科學(xué)的需求,適用于 對各種不同類型材料的分析和表征。
TESCAN CLARA SEM掃描電子顯微鏡是真正靈活的分析平臺,能 得到具有好襯度的優(yōu)質(zhì)圖像。無論樣品是否導(dǎo) 電、有無磁性、是有機(jī)還是無機(jī)材料, CLARA均可提供理想的圖像,這得益于具有電子 信號過濾功能的良好探測系統(tǒng)和可變真空環(huán)境的系 統(tǒng)設(shè)計(jì)。
BrightBeam™SEM 鏡筒
最新的BrightBeam™ SEM鏡筒,實(shí)現(xiàn)了無磁 場高分辨成像,適用于磁性樣品分析。新型鏡筒中 的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率,特 別適合分析電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品。
多探測器成像分析
CLARA配置最新的多種探測器,可 選擇不同角度和能量收集信息,體現(xiàn)更多種類的 信息,同時(shí)能夠獲得更好的表面靈敏度和對比度。
SE 分辨率:0.9 nm@15kV
• 1.2 nm @ 1 kV
• 配置靜電■電磁復(fù)合物鏡,物鏡無磁場外泄, 可實(shí)現(xiàn)磁性樣品超高分辨成像和分析 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù),保證復(fù) 雜樣品的低電壓高分辨觀測
• 配置4個(gè)新一代探測器,可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀 測,樣品信息采集更加全面
• 超過20個(gè)擴(kuò)展接口,可配置多種分析附件, 并實(shí)現(xiàn)Raman 一體化集成
1、硅基底上的鍍金顆粒。
2、陶瓷斷裂表面,2 keV成像。
3、在Cyr。條件下觀察到的真菌弛子。
4、用TESCANCL探測器獲得的石英晶體的CL圖像。