納米粒度儀SZ-100V2
- 公司名稱 廣州嶺江光學(xué)科技有限公司
- 品牌 HORIBA/堀場
- 型號
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2023/7/1 23:45:58
- 訪問次數(shù) 1048
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測量范圍 | 0.3nm-10um微米 | 測量時間 | 120秒 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 分散方式 | 濕法分散 |
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 動態(tài)光散射 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),制藥,綜合 |
納米粒度儀SZ-100V2,能表征納米顆粒的三個參數(shù):粒徑、Zeta 電位和分子量,一臺設(shè)備、三種功能,可對每個測量參數(shù)進(jìn)行高靈敏度、高精度的分析。
納米技術(shù)是一門交叉性很強(qiáng)的綜合學(xué)科,研究的內(nèi)容涉及現(xiàn)代科技的廣闊領(lǐng)域。納米科學(xué)與技術(shù)涵蓋納米化學(xué)、納米材料學(xué)、納米生物學(xué)、納米電子學(xué)、納米加工學(xué)、納米力學(xué)等 。這七個相對獨(dú)立又相互滲透的學(xué)科和納米材料、納米器件、納米尺度的檢測與表征這三個研究領(lǐng)域。納米材料的制備和研究是整個納米科技的基礎(chǔ)。
粒徑測量范圍0.3nm~10µm。
納米粒度儀SZ-100V2采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布,實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量,該系列可準(zhǔn)確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池,也可實(shí)現(xiàn)對小體積樣品的測量。
Zeta電位測量范圍–500~+ 500mV。
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL,通過Zeta電位可預(yù)測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高,則意味著分散體系越穩(wěn)定,這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。
分子量測量范圍1×10 3 ~ 2 ×10 7Da。
通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的絕對分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力,可快速確定納米顆粒的特性!
SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì),既可以測量高濃度的樣品,如漿體和染料;同時也可以用于測量低濃度樣品,如蛋白質(zhì)、聚合物等。
使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量。
Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量(容量100 μL)小適用于稀釋樣品的分析。
Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成,該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。