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PCI共光路干涉弱吸收儀

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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年,專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學檢測設備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內的服務。主要包括:
光學檢測產(chǎn)品:應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調相位延遲波片等;
激光檢測產(chǎn)品:激光功率計、能量計及光束質量分析儀等;
                         集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉換器等
                         顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。
                         值得一提的是,近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀,CRD光腔衰蕩法高反測量儀,偏心曲率測量儀等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎。

測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,電子,交通

PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理:


PCI共光路干涉弱吸收儀


右圖,Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上,光吸收的存在將在樣品內部產(chǎn)生熱波,從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應,當一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應區(qū)域與pump光相交時,探測光在該焦點處波前發(fā)生畸變引起點衍射共路干涉,并產(chǎn)生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理,最后由軟件計算顯示出待測樣品的吸收值。

特點:

  • 精度高: 1 ppm

  • 一次測量可以區(qū)分體、面吸收

  • 掃描速度快(幾分鐘)

  • 對樣品規(guī)格要求不高

  • 操作方便、簡單

應用領域:

  • 光學薄膜

  • 光學晶體材料

  • 光學鏡片

PCI共光路干涉弱吸收儀性能:

  • 測量晶體(LBO、YVO4、KTP…)或光學產(chǎn)品(K9、BK7、UVFS…)內部材料的弱吸收(體吸收)

  • 測量晶體或光學產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收

  • PCI 指標說明


波長常規(guī)355、532、1064nm,其它波長可定制
靈敏度體吸收:1ppm/cm;面吸收:1ppm
樣品規(guī)格
方形、圓形均可
最小尺寸(mm):3x3x3;
最大尺寸(mm):50x50x50
其它尺寸可定制
測試速度常規(guī)2min/片(相對6mm厚度)
區(qū)分體、面吸收一次測量可以區(qū)分體、面吸收
軟件掃描功能
AbMat-1D: 一維逐點掃描
AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式長度/面/時間掃描





1.光源
Probe光源
632nmHe-Ne 激光器(imported with original packaging)
-最大功率:2mw
-功率穩(wěn)定性:<0.1%
-發(fā)散角:1.3mrad
-偏振比:500:1
Pump光源
#1064nm 光纖激光器
-平均功率: 20W(CW)
-光束質量M2:<1.5
-功率穩(wěn)定性:<2%(超過5 小時)
-偏振:隨機
-制冷方式:風冷
-偏振光系統(tǒng)
2.探測部分
imported with original packaging
含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計、二維調整架等。
3.載物臺部分
imported with original packaging
含三維步進電機、樣品支架等
4.光學元件部分反射鏡、透鏡、功率調節(jié)器等
5.軟件部分
實時數(shù)據(jù)采集,自動保存,數(shù)據(jù)分析等。
一維逐點掃描
二維吸收立體掃描
6.其它說明
建議設備安裝在超凈間環(huán)境;
建議配UPS電源。











PCI共光路干涉弱吸收儀

測量結果及儀器實物圖

PCI共光路干涉弱吸收儀









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