日立二手電鏡SEM+EDX

1.樣品要求：粉體需5mg左右；塊體長(zhǎng)寬高需小于10mm（超出該尺寸請(qǐng)?zhí)崆奥?lián)系技術(shù)顧問(wèn)確認(rèn)，鑲嵌樣及多孔材料抽真空時(shí)間較長(zhǎng)，尺寸盡量小一些，非特殊原因請(qǐng)務(wù)必按要求制樣，以免耽誤測(cè)試效果及周期）；液態(tài)或粘稠樣品務(wù)必烘干寄樣，如電子束照射下流動(dòng)變形，則無(wú)法拍攝；

2. 此項(xiàng)目需提前聯(lián)系技術(shù)顧問(wèn)預(yù)約測(cè)試時(shí)間！下單后技術(shù)顧問(wèn)根據(jù)樣品要求和數(shù)量預(yù)估測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，從樣品進(jìn)樣開(kāi)始計(jì)時(shí)，最終以實(shí)際測(cè)試為準(zhǔn)，多退少補(bǔ)；現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試請(qǐng)聯(lián)系技術(shù)顧問(wèn)確認(rèn)現(xiàn)場(chǎng)地址及時(shí)間，建議提20min到現(xiàn)場(chǎng)制樣及噴金（需要特殊制樣方式請(qǐng)?zhí)崆罢f(shuō)明），遠(yuǎn)程視頻測(cè)試默認(rèn)收到樣品后確認(rèn)測(cè)試時(shí)間.

3. 特別注意：無(wú)法測(cè)試強(qiáng)磁材料；若樣品有磁性（含鐵/鈷/錳/鎳元素），請(qǐng)?zhí)崆罢f(shuō)明；常規(guī)倍數(shù)可達(dá)5w-10w，最大20萬(wàn)倍，但實(shí)際效果和樣品性質(zhì)有關(guān)，若樣品有磁性或?qū)щ娦圆?，高倍下不能保證好的效果，敬請(qǐng)理解！

4. 此項(xiàng)目為計(jì)時(shí)收費(fèi)，請(qǐng)?jiān)跇悠窋?shù)量處填1；

5. 如有其他疑問(wèn)，請(qǐng)聯(lián)系前期對(duì)接的技術(shù)顧問(wèn)；

結(jié)果展示

主要技術(shù)指標(biāo)· 鎢燈絲電子槍；· 加速電壓：0.2~30 kV，連續(xù)可調(diào)；· 放大倍數(shù)：6×~1200,000×；· 30 kV高壓下，分辨率：3.5 nm；  3 kV電壓下，分辨率：15 nm；  環(huán)境掃描條件下，分辨率：3.5 nm；  能譜儀分辨率：133 eV主要功能及應(yīng)用范圍· 納米材料、復(fù)合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導(dǎo)體與非導(dǎo)體地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。