可控環(huán)境型微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng),超納米壓痕儀,納米壓痕儀,動(dòng)態(tài)超顯微硬度計(jì),超顯微硬度計(jì),納米硬度計(jì),納米劃痕儀,顯微劃痕儀,大載荷劃痕儀,納米摩擦儀,摩擦儀,摩擦試驗(yàn)機(jī),高溫摩擦試驗(yàn)機(jī),真空摩擦試驗(yàn)機(jī),膜厚儀,球磨儀,高精度臺(tái)階儀,三維微納米輪廓儀,原子力顯微鏡，薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)x，全息顯微鏡，激光測(cè)振儀，激光干涉儀，激光測(cè)速儀，光譜型橢偏儀，掃描霍爾探針顯微鏡，精密d33測(cè)試儀，薄膜d33測(cè)試儀，高溫介電測(cè)量系統(tǒng)，表面等離子體共振儀，激光拉曼顯微鏡PCT測(cè)試儀，碳納米制備系統(tǒng)，原子層沉積系統(tǒng)，電子束蒸發(fā)系統(tǒng)熱蒸發(fā)系統(tǒng)超高真空蒸發(fā)系統(tǒng)磁控濺射系統(tǒng)分子束外延系統(tǒng) MBE有機(jī)分子束沉積 OMBD等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相淀積系統(tǒng) PECVD電子回旋共振等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積 ECR-PECVD低能離子減薄儀，離子減薄儀，拋光機(jī)，精密切片機(jī)，微熱臺(tái)
| 技術(shù)參數(shù) | ||
| 分辨率：XY方向0.5nm,Z方向0.1nm； 掃描范圍：XY方向zui大掃描范圍200㎛ x 200㎛,Z方向10㎛； | ||
| 主要特點(diǎn) | ||
| 1、XY方向采用的音圈馬達(dá)驅(qū)動(dòng)技術(shù)，不但保證了更大的掃描范圍，而且大大提供的分辨率； 2、開(kāi)放平臺(tái)，支持更大的樣品； 3、采用的自感應(yīng)探針，自動(dòng)樣品逼近，免去了調(diào)節(jié)光路的麻煩； 4、更高的分辨率； 5、快速樣品加載、卸載； 6、價(jià)格極為優(yōu)惠； | ||
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| 又名：掃描探針顯微鏡、原子力形貌儀；采用目前近的音圈馬達(dá)驅(qū)動(dòng)技術(shù)和自感應(yīng)探針技術(shù)，使得測(cè)試、操作更加便捷，而且大大的提高了三維形貌的分辨率；而且高性能低價(jià)位； |
其他相關(guān)產(chǎn)品：
世界*原子力顯微鏡（掃描探針顯微鏡），客戶已遍及國(guó)內(nèi)眾多重點(diǎn)高校和科研機(jī)構(gòu)，依的品質(zhì)和優(yōu)秀的技術(shù)服務(wù)，*受到客戶的好評(píng)！
1.多功能掃描探針顯微鏡：用于測(cè)量各種材料表面高精度成像外，還能表征多種材料如無(wú)機(jī)物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復(fù)合材料和生物材料的多種物性，包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢(shì)、靜電力、壓電響應(yīng)、電流像、電流隧道譜、電容等等，還能進(jìn)行納米尺度的加工及力學(xué)性質(zhì)的表征，能在大氣、液體及電化學(xué)條件下測(cè)量。
2.新型多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡：目前商用的*一款真正專業(yè)級(jí)高真空環(huán)境控制型SPM， 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)所有功能；而且掃描在封閉的Chamber中進(jìn)行，可對(duì)測(cè)量的環(huán)境（高真空、高溫、低溫、液體、電化學(xué)等）進(jìn)行控制； 可連續(xù)變溫，低溫達(dá)-120℃，高溫可達(dá)800度；
3.大尺寸樣品掃描探針顯微鏡： 大尺寸φ200mm樣品的微區(qū)（微米至納米量級(jí)）形貌及其物理特性進(jìn)行觀測(cè)分析。適用于測(cè)量各種光盤（DVD，CD，HD等）、磁盤、半導(dǎo)體、微電子及其他大尺寸的樣品。
4.低溫掃描霍爾顯微鏡（LT-SHPM，低溫霍爾顯微鏡）：該系統(tǒng)可與多種低溫杜瓦聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)低溫1K~300K溫度范圍內(nèi)樣品表面微區(qū)磁場(chǎng)分布定量化圖像化分析，樣品尺寸達(dá)15＊15＊5mm，微區(qū)磁化性能B-H曲線和M-H曲線測(cè)量，實(shí)時(shí)測(cè)量動(dòng)態(tài)磁化現(xiàn)象，支持?jǐn)U展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能，磁場(chǎng)高達(dá)16T；
5.多功能PPMS掃描探針顯微鏡（PPMS-SPM）：該系統(tǒng)可與現(xiàn)有的幾乎所有的PPMS系統(tǒng)（物性測(cè)量系統(tǒng)，如 Quantum Design,Inc. ）聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等測(cè)量功能，并且可在溫度范圍2K~300K和磁場(chǎng)高達(dá)16T條件下，高分辨成像；
6.mK 超低溫掃描探針顯微鏡（mK-SPM，超低溫原子力顯微鏡）：該系統(tǒng)可與牛津儀器的Dilution低溫杜瓦和He3系統(tǒng)，或者其他mK系統(tǒng)聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)mK~300K溫度范圍高分辨樣品表面成像；主要測(cè)量功能STM、接觸式AFM、非接觸式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等，磁場(chǎng)高達(dá)16T；
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