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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測(cè)>其它無損檢測(cè)儀器/設(shè)備>CSK-IIA系列試塊 超聲波試塊

CSK-IIA系列試塊 超聲波試塊

參考價(jià) 640.00-3300.00
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 濟(jì)寧儒佳檢測(cè)儀器有限公司
  • 品牌其他品牌
  • 型號(hào)CSK-IIA系列試塊
  • 所在地濟(jì)寧市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2023/5/23 20:40:08
  • 訪問次數(shù) 2674
規(guī)格
CSK-IIA-1640.00元999 件可售
CSK-IIA-21800.00元99 件可售
CSK-IIA-33300.00元996 件可售

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


濟(jì)寧儒佳檢測(cè)儀器有限公司是專業(yè)的多功能磁粉探傷儀,工業(yè)X射線探傷機(jī),X射線探傷機(jī)廠家模擬超聲波探傷儀廠家,主要產(chǎn)品有:多功能磁粉探傷儀,工業(yè)X射線探傷機(jī),X射線探傷機(jī),模擬超聲波探傷儀等,是一家集科、工、貿(mào)于一體的專業(yè)無損檢測(cè)器材及理化設(shè)備供應(yīng)商。公司員工??埔陨蠈W(xué)歷占90%以上,公司具有雄厚的科研力量,與國(guó)內(nèi)外院校及科研單位有著廣泛的合作。
 公司致力于做好超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、磁粉探傷儀、X射線探傷機(jī)、觀片燈、黑白密度計(jì)、全自動(dòng)洗片機(jī)、膠片烘干箱、里氏硬度計(jì)、超聲波探頭的基礎(chǔ)上,還代理了國(guó)內(nèi)外的相關(guān)儀器,并擁有國(guó)內(nèi)眾多工業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)品的中國(guó)區(qū)代理權(quán)和一支的采購(gòu)團(tuán)隊(duì),為國(guó)內(nèi)企業(yè)客戶提供高性能的國(guó)產(chǎn)及進(jìn)口工業(yè)設(shè)備。
 目前我們代理的品牌有:
 1、日本理學(xué)株式會(huì)社(進(jìn)口X射線探傷機(jī))一級(jí)代理商;
 2、YXLON(依科斯朗)射線探傷機(jī)一級(jí)代理商;
 3、德國(guó)布魯克BRUKER公司(X熒光直讀合金光譜儀)一級(jí)代理商;
 4、牛津儀器公司Oxford Instruments授權(quán)代理商;
 5、廣東汕頭超聲電子股份有限公司超聲儀器分公司(TOFD成像檢測(cè)儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀)特約售后服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)、授權(quán)一級(jí)代理商;
 6、武漢中科創(chuàng)新股份有限公司(TOFD成像檢測(cè)儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀)山東省授權(quán)代理商;
 7、汕頭超聲儀器研究所(TOFD成像檢測(cè)儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀)特約售后服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)、授權(quán)一級(jí)代理商;
 8、山東濟(jì)寧模具廠超聲波試塊一級(jí)代理商。
 9、大連希奧特射線機(jī)、觀片燈、黑度計(jì)一級(jí)代理商。
 公司下設(shè)開發(fā)部、采購(gòu)部、生產(chǎn)部、銷售部、質(zhì)檢部、售后服務(wù)等多個(gè)部門。并致力于為廣大用戶提供性能更好、質(zhì)量更優(yōu)、價(jià)位更低的儀器和更加專業(yè)周到的服務(wù)。做到一個(gè)客戶一個(gè)方案,為您量身打造周到細(xì)致、專業(yè)的技術(shù)指導(dǎo)和貼心一站式的服務(wù)。濟(jì)寧儒佳檢測(cè)儀器有限公司愿與廣大用戶和同行一道為無損檢測(cè)儀器行業(yè)技術(shù)提高而努力奮斗。

 

超聲波探傷儀,超聲波測(cè)厚儀,磁粉探傷儀,紫外線熒光探傷燈,X射線探傷儀,觀片燈,黑白密度計(jì),全自動(dòng)洗片機(jī),便攜式看譜鏡,里氏硬度計(jì),電火花防腐層檢測(cè)儀等

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 1千-5千
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,航天,綜合

超聲波試塊

超聲波試塊

CSK-IIA系列試塊 - NB/T47013-2015 承壓設(shè)備無損檢測(cè)超聲波探傷


CSK-ⅡA-1#測(cè)試方法:(1)橫波靈敏度的設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,。探頭置于示意圖中b位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中e位置,前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置,前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。該類試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求而設(shè)計(jì),適用于將斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表:

  1. 縱波靈敏度設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖中g位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,探頭置于示意圖中h位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中i位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中j位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中k位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中L位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線,此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。

CSK-ⅡA-2#測(cè)試方法:1)橫波靈敏度的設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值。探頭置于示意圖中b位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中e位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。探頭置于示意圖中g(shù)位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第七點(diǎn)。探頭置于示意圖中h位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第八點(diǎn)。探頭置于示意圖中i位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第九點(diǎn)。探頭置于示意圖中j位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第十點(diǎn)。將以上十點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。

2)縱波靈敏度設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖中k位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值。探頭置于示意圖中l(wèi)位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中m位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中n位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中o位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中p位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。探頭置于示意圖中q位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第七點(diǎn)。探頭置于示意圖中r位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第八點(diǎn)。將以上八點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線,此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。

 



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