佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756
- 公司名稱 上海佑科儀器儀表有限公司
- 品牌 YOKE/上海佑科
- 型號
- 產地 上海市奉賢區(qū)青村鎮(zhèn)青靈路228號
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/9/3 14:14:12
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波長范圍 | 190-1100nm | 波長準確度 | ±0.5nm |
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光譜帶寬 | 2nm | 價格區(qū)間 | 面議 |
接收器類 | 光電二極管陣列 | 儀器結構 | 準雙光束 |
應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工,生物產業(yè) | 雜散光(S.L.) | 0.05%%T |
自動程度 | 自動波長 |
佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756 儀器特點:
1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統(tǒng),使儀器光源切換更快速。
2. 準確的2nm帶寬,使測試數據更準確。使用進口長壽命光源,使儀器光源切換更快速。
3.*的波長控制系統(tǒng),使波長精度更高。改良的光學系統(tǒng),使測試更準確。
4.采用進口的光電轉換器,使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統(tǒng)。使儀器的使用更簡便,穩(wěn)定性也很好。
6.儀器采用128*64位點陣液晶顯示器,可直接顯示標準曲線和測試數據,主機可存儲測試數據,并可選配打印機;
UV756CRT型紫外可見分光光度計在UV756的基礎上增加了全波段自動掃描功能和連接微機功能。
佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756 儀器參數:
波長范圍:190-1100nm
波長準確度:±0.5nm
波長重復性:0.2nm
光譜帶寬:2nm
透射比準確度:±0.5%T
透射比重復性:0.2%T
光度范圍:-3~3A ,0-200%T,0~9999C
基線平直度:±0.001A/h
雜散光:0.05%T@220nm、360nm
穩(wěn)定性:±0.001A/小時 @500nm
顯示方式:128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊:USB接口
打印機:選配
分析軟件:支持
自動八聯(lián)比色池:選配
光學系統(tǒng):雙光束比例監(jiān)測
噪聲水平:±0.001A/2min@500nm