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布魯克nanoIR AFM紅外原子力顯微鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 美國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間 2023/1/8 15:38:47
  • 訪問(wèn)次數(shù) 2490

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國(guó)上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過(guò)程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái),以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測(cè)厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測(cè)量?jī)x
Wafer 粗糙度檢測(cè)
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測(cè)試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測(cè)試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 定位檢測(cè)噪聲 0.2nm
價(jià)格區(qū)間 面議 樣品尺寸 150mmmm
樣品臺(tái)移動(dòng)范圍 100mmx100mmmm*mm 儀器種類(lèi) 原子力顯微鏡
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,冶金,航天

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Bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱(chēng)AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級(jí)別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。


光熱誘導(dǎo)技術(shù)實(shí)現(xiàn)10nm超高化學(xué)分辨率和高信噪比納米紅外光譜

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高性能納米級(jí) FTIR 光譜

只有 nanoIR3-s 能夠提供:

  • 高性能納米級(jí) FTIR 光譜

  • 高性能紅外近場(chǎng)光譜,采用目前*進(jìn)的納米紅外激光源

  • 納米級(jí) FTIR 光譜,采用集成式DFG,可與寬帶同步輻射光源集成

  • 適用于光譜和化學(xué)成像的多芯片 QCL 激光源

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點(diǎn)光譜技術(shù)

POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個(gè)波長(zhǎng)的光譜分析和高分辨光學(xué)成像。nanoIR3-s讓測(cè)試更加簡(jiǎn)單:

·在 AFM 圖像中選擇要測(cè)量的特征

·測(cè)量樣品的波譜,選擇感興趣的波長(zhǎng)

·采集高分辨光學(xué)屬性圖


根據(jù)對(duì)多個(gè)波長(zhǎng)的干涉圖的快速測(cè)量,獲得空間分辨率達(dá)到 10nm 的振幅和相位圖像     實(shí)現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR,用于互補(bǔ)性紅外光譜分析。


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