納米力學(xué)測試設(shè)備

Bruker’s TI 950 TriboIndenter

海思創(chuàng)TI 950 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克一臺用于多種納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的自動化、高通量測試設(shè)備。海思創(chuàng)TI 950納米壓痕儀集成了強大的Preformech® I先進控制模塊，顯著提高了納米力學(xué)測試反饋控制的準(zhǔn)確度，提供了*的低噪音水平。結(jié)合布魯克的大量納米力學(xué)測試技術(shù)和正在研發(fā)的測試方法，TI 950 TriboIndenter 是一臺多功能和極其高效的納米力學(xué)測試系統(tǒng)，適用于廣泛的應(yīng)用。

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優(yōu)異的控制反饋和靈敏度

布魯克先進的反饋控制算法和測量靈敏度為所有海思創(chuàng)納米力學(xué)測試技術(shù)提供了的控制。海思創(chuàng)TI 950上所有的反饋控制功能都基于集成了數(shù)據(jù)信號處理器（DSP）和現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）的專業(yè)控制系統(tǒng)，用于實現(xiàn)用戶的測試需求。

電容傳感器技術(shù)

專業(yè)的電容傳感器技術(shù)提供了納米壓痕過程中的測量靈敏度（<30nN, <0.2nm），準(zhǔn)確性和可信度。靜電激勵模式使用微小電流，具有的溫漂性能，從而實現(xiàn)更快的數(shù)據(jù)采集，更高的精度和更好的重復(fù)性。

集成原位掃描探針成像的高分辨光學(xué)系統(tǒng)

海思創(chuàng)TI 950集成了帶彩色CCD相機的光學(xué)系統(tǒng)，用于高放大倍數(shù)下的樣品表面觀察和測試位置選擇。原位掃描探針成像系統(tǒng)能提供更的測試位置選擇（±10nm）。TI 950的這種雙模式成像設(shè)計實現(xiàn)了許多應(yīng)用對控制測試位置的需求。