化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測(cè)>X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)>Skyscan1272 微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng)
Skyscan1272 微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng)
- 公司名稱 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào) Skyscan1272
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/12 10:55:46
- 訪問次數(shù) 3803
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MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,地礦,建材,制藥 |
CT基本原理
微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng)(3D XRM)是一種基于X射線的成像技術(shù),使用微型計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)(Micro Computed Tomography)。包括掃描和重構(gòu)兩個(gè)主要部分,Micro/Nano 表明其分辨率可達(dá)到微米/亞微米級(jí)別。
半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是國(guó)家重點(diǎn)支持和鼓勵(lì)的發(fā)展方向,半導(dǎo)體器件封裝和內(nèi)部缺陷檢測(cè)越來越重要,而微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng)(3D XRM),可以在無損不破壞樣品的情況下,清晰地觀測(cè)到電子元器件的分布情況及封裝器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu),同時(shí),可檢測(cè)虛焊、連錫、斷線等缺陷信息,可以三維重構(gòu)整個(gè)半導(dǎo)體器件內(nèi)部結(jié)構(gòu),對(duì)于研發(fā)和后期加工工藝的改進(jìn)、提升起到重要的指導(dǎo)作用。
SkyScan 1272 High Resolution Micro CT針對(duì)半導(dǎo)體領(lǐng)域小樣品器件,如電阻電容、攝像頭的鏡頭等有著超高分辨率優(yōu)勢(shì)。
應(yīng)用實(shí)例
小型電子產(chǎn)品
Inductor – 3 µm voxel size
Chip – 2 µm voxel size
了解更多應(yīng)用方向,請(qǐng)致電束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司