蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Gemini系列

[ 產(chǎn)品簡介 ]

蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Gemini系列，具有出色的探測效率，能夠輕松實現(xiàn)亞納米分辨成像，適用于多種材料的高分辨成像與分析。其優(yōu)異的低電壓成像能力與表面細節(jié)靈敏度，讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。為生命科學研究實驗室、工業(yè)實驗室、成像測試平臺、高校或研究機構提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微技術與方案。

[ 產(chǎn)品特點 ]

ü                      出色的檢測效率

ü                      優(yōu)異的低電壓分辨率和表面靈敏度

ü                      靈活的探測手段獲取高分辨的圖像

ü                      無漏磁鏡筒，輕松應對磁性材料表征

ü                      豐富的擴展性

[ 應用領域 ]

ü                      材料科學，如納米材料表征

ü                      工業(yè)應用，如失效分析，性能分析

ü                      生命科學，如大體積細胞高通量成像

ü                      電池領域，如老化分析、電池材料表征

ü                      電子半導體領域，如半導體器件失效研究與分析

ü                      刑偵、法醫(yī)學

ü                      考古學、文物保護與修復

InLens SE探測器磁性FeMn納米顆粒成像

InLens SE探測器NCM622正極顆粒成像

InLens SE 探測器和EsB 探測器同時對包埋在沸石中的銀納米顆粒成像

aBSD探測器FinFET結構成像

NanoVP模式，細節(jié)兼顧景深。樣品無需噴金處理。

NanoVP模式下不導電玻璃片上的光刻膠樣品成像   小鼠大腦成像