☆奧林巴斯Olympus☆

38DL PLUS超聲波測厚儀

38DL PLUS是一款高級超聲波測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進行非常精確的厚度測量。

38DL PLUS超聲波測厚儀：性能高級、操作簡便、堅固耐用、結(jié)果可靠

38DL PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲波測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。 

38DL PLUS的標(biāo)準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些于某些特殊應(yīng)用的軟件選項。其密封機殼的設(shè)計符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在*的黑暗中都能具有較好的可視性。測厚儀的鍵區(qū)既簡潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。

38DL PLUS主要特性：

• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。 
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 
• 厚度、聲速和渡越時間測量。 
• 差分模式和縮減率模式。 
• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。 可與雙晶和單晶探頭兼容。 
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。 
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。 
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。 
• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。 
• 對于所有探頭，標(biāo)準分辨率為0.01毫米。 
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。 
• 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。 
• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。 
• 設(shè)計符合EN15317標(biāo)準。

抵御惡劣環(huán)境的能力

• 袖珍型，僅重0.814公斤。 
• 堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準。 
• 爆炸性氣氛：通過了美軍標(biāo)準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試。• 防撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試。• 防振動測試：通過了美軍標(biāo)準MIL-STD-810F方法514.5程序。 
• 寬泛的工作溫度范圍。 
• 帶有支架的橡膠保護套。 
• 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有較高的清晰度。

簡便操作的設(shè)計理念

     外顯示設(shè)置，A掃描模式                       室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式

• 可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。 
• 可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。 
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。 
• USB和RS-232通訊端口。 
• 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。 
• 可連接計算機或顯示器的VGA輸出。 
• 默認或自定義雙晶探頭設(shè)置。 
• 默認或自定義單晶探頭設(shè)置。 
• 密碼保護功能可以鎖住儀器的功能。

38DL PLUS測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。 
• 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。 
• 32位字符的文件名稱。 
• 20位字符的ID# (TML#)編碼。 
• 9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。 
• 每個ID# (TML)編碼可zui多存儲4個注釋。 
• 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。 
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。 
• 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。 
• 標(biāo)準USB和RS-232通信。 
• 單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。 
• 機載統(tǒng)計報告。 
• 機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。 
• GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信。 
• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲卡。

 38DL PLUS測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中經(jīng)常使用的是雙晶探頭。 

• 用于標(biāo)準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。 
• 10個自定義雙晶探頭設(shè)置。 
• 校準過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。 
• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。 
• 校準過程中出現(xiàn)回波加倍時使用的校準加倍功能。 
• 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。 
• 高溫測量：溫度可高達500°C。 
• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。 
• EMAT探頭，用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不用耦合劑測量。

穿透涂層技術(shù)

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補償

材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的精確性。用戶使用溫度補償功能可以手動輸入校準試塊的溫度值和測量時的實際（高）溫度值。38DL PLUS自動顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測量（可選項）

38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測管件的壽命。建議在此項應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用。

用戶只需校準并輸入已知厚度值（zui小3個校準點；zui大10個校準點），儀器就會創(chuàng)建V聲程補償曲線。

自動探頭識別

所有標(biāo)準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。

38DL PLUS超聲波測厚儀可以對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。 
• 對于所有探頭，標(biāo)準分辨率為0.01毫米。 
• 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。 
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 
• 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。 
• 測量厚度、聲速或渡越時間。 
• 帶有默認和自定義設(shè)置的自動調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量。

高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。

多層軟件選項

這個軟件選項計算并同時顯示多達4個不同層的厚度測量值。

這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進行的厚度測量。