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    MAIA3 MAIA3掃描電子顯微鏡

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    MAIA3

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    TESCAN泰思肯公司簡介


    TESCAN是一家專注于微觀形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析的科學(xué)儀器的跨國公司,是知名的電子顯微儀器制造商,總部位于電鏡制造基地-捷克布爾諾,且已建立起國際的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),在捷克、法國和美國擁有4家研發(fā)中心、2個生產(chǎn)基地以及6家海外子公司,已有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史。其產(chǎn)品主要有電子顯微鏡、聚焦離子束系統(tǒng)、多通道全息顯微鏡及相關(guān)分析附件和軟件,正被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、生物、生化、農(nóng)業(yè)、材料科學(xué)、冶金、化學(xué)、石油、制藥、半導(dǎo)體和電子器件等領(lǐng)域中。

    作為科學(xué)儀器的主要供應(yīng)商之一,TESCAN正為其在設(shè)計(jì)、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹立良好的聲譽(yù)和品牌。目前TESCAN的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)在微納米技術(shù)領(lǐng)域取得了優(yōu)勢的地位,創(chuàng)造了掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù)、聚焦離子束與飛行時間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù),也是行業(yè)領(lǐng)域的先行者。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得越來越多的用戶認(rèn)可,目前生產(chǎn)的各系列電鏡在世界范圍內(nèi)受到廣泛的好評。從2000年至今已有2500多臺電鏡積極地服務(wù)于全球客戶。

     

    TESCAN中國

     

    TESCAN于2009年正式進(jìn)入中國市場,成立了TESCAN CHINA中國分公司,總部設(shè)在上海,且在北京、上海兩地建立了DEMO實(shí)驗(yàn)室,在北京、上海、廣州、重慶、南京、武漢、西安、無錫、蘇州等城市設(shè)立9個維修站。TESCAN中國公司擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的售前應(yīng)用和售后服務(wù)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),在上海的應(yīng)用中心有包含鎢燈絲電鏡、場發(fā)射電鏡、FIB以及電制冷能譜儀、電鏡制樣設(shè)備等全系列產(chǎn)品的演示培訓(xùn)平臺,為國內(nèi)用戶提供參觀、交流和學(xué)習(xí)的平臺。

     

    在進(jìn)入中國的短短幾年內(nèi),TESCAN已逐步建立起了自己的品牌,得到了廣大客戶的認(rèn)同。TESCAN在中國的高速發(fā)展得益于產(chǎn)品優(yōu)異的性能、快捷的售后服務(wù)以及致力于成就客戶的信念,未來TESCAN中國將持續(xù)提升個性化服務(wù),為國內(nèi)用戶提供更全面、更專業(yè)的綜合解決方案!

     

    場發(fā)射掃描電鏡

    價格區(qū)間 面議 儀器種類 冷場發(fā)射
    應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保

    MAIA3掃描電子顯微鏡多功能探測器及高空間分辨率,使 MAIA3 型超高分辨掃描電鏡能觀察到樣品精細(xì)的表面細(xì)節(jié)。這對于納米材料的綜合表征,半導(dǎo)體工業(yè)中對電子束敏感樣品及未鍍膜的生物樣品等非導(dǎo)電樣品的成像都非常適合。

    MAIA3掃描電子顯微鏡

    突出特點(diǎn)

    Triglav™- 新型超高分辨率(UHR) 電子光學(xué)鏡筒

    • TriLens™ 物鏡系統(tǒng):*的電子束無交叉模式與三物鏡相結(jié)合;
    • 具有多個 SE 及 BSE 探測器的探測系統(tǒng);
      • TriSE™+TriBE™
    • Triglav™ - 低加速電壓下的超高分辨率: 1 nm ( 1 keV ), 0.7 nm ( 15 keV );
    • EquiPower™技術(shù)進(jìn)一步提高電子束的穩(wěn)定性;
    • 電子束流高達(dá) 400 nA,并能實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變;
    • 優(yōu)化的鏡筒幾何設(shè)計(jì)大可容納8”晶圓
    • 實(shí)時電子束追蹤技術(shù)(In-Flight Beam Tracing™)可對電子束實(shí)時優(yōu)化;
    • 擴(kuò)展的低真空模式,樣品室氣壓能達(dá)到 500 Pa,實(shí)現(xiàn)不導(dǎo)電樣品的觀測;
    • TriBE™具有三個 BSE 探測器,可以選擇不同立體角的信號進(jìn)行采集。位于鏡筒內(nèi)部的 Mid-Angle BSE 和 In-Beam LE-BSE 探測器,分別用于檢測中角及軸向的高角背散射電子,而樣品室的 BSE 探測器用于探測低角背散射電子。三個探測器可以提供不同襯度的圖像,并且能探測到低于 200 eV 的低能背散射信號;
    • TriSE™具有三個 SE 探測器,所有工作模式下二次電子信號的采集都進(jìn)行了優(yōu)化。位于鏡筒內(nèi)部的 In-Beam SE 探測器能在短工作距離下采集二次電子,SE ( BDM ) 探測器用于電子束減速模式下的超高分辨成像。In-Chamber SE 探測器能提供形貌襯度和立體感;
    • 電子束減速技術(shù)(BDT)可在低至 50 eV 的低電子束能量下實(shí)現(xiàn)出色的分辨率(選配)。

    MAIA3

    MAIA3



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