ST-SP 2001 晶體管特性測(cè)試儀
- 公司名稱 西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) ST-SP 2001
- 產(chǎn)地 西安
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2021/11/5 16:26:42
- 訪問次數(shù) 312
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)|IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀|IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀| 功率循環(huán)試驗(yàn)臺(tái)|高溫反偏差測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
---|
產(chǎn)品目錄
? 晶體管圖示儀(曲線追蹤儀)
? 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng)。
? 靜態(tài)測(cè)試設(shè)備:包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)
? 動(dòng)態(tài)測(cè)試設(shè)備:包括 Tr, Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Ci , RBSOA 等
? 環(huán)境老化測(cè)試:包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等
? 熱特性測(cè)試:包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等
? 測(cè)試范圍:Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOSFET , DIODE , BJT , SCR等分立器件及功率器件。
ST-SP2001
晶體管特性測(cè)試儀
可測(cè)試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數(shù)
(測(cè)試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)
主極2000V / 50~1250A,分辨率高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
應(yīng)用領(lǐng)域
*院所、高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機(jī)、白色家電、新能源汽車、軌道機(jī)車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試)
? 失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提出改善方案 )
? 選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較*的器件進(jìn)行分類配對(duì))
? 來料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動(dòng)化測(cè)試)
?晶體管特性測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)述
產(chǎn)品擴(kuò)展性強(qiáng),通過選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時(shí)顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了
系統(tǒng)操作。通過功能按鍵,系統(tǒng)可以脫離主控計(jì)算機(jī)獨(dú)立完成多種工作。
曲線追蹤儀(晶體管圖示儀)功能則是利用高速ATE測(cè)試步驟逐點(diǎn)生成曲線,可快速而準(zhǔn)確地生成
清晰的數(shù)據(jù)點(diǎn)。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù),典型的每步測(cè)試時(shí)間為6到20ms。一個(gè)兩百條數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET
RDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外, 針對(duì)多條曲線,設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運(yùn)行并將所獲數(shù)據(jù)自動(dòng)發(fā)送到一個(gè)單獨(dú)的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快,更簡(jiǎn)潔的創(chuàng)建曲線(單擊,雙擊,選擇輸入菜單,單擊)。就是這么簡(jiǎn)單。設(shè)備支持在單個(gè) DUT 上運(yùn)行高達(dá) 10 條不同曲線的能力,在運(yùn)行過程中,每個(gè)圖表都是可視的,每個(gè)數(shù)據(jù)集都被加載到一個(gè)被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運(yùn)行速度快,可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄,提供更高級(jí)的數(shù)據(jù)工具箱,能夠運(yùn)行多條曲線并自動(dòng)排序,自動(dòng)將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格,具有縮放功能,光標(biāo)重新運(yùn)行功能以及其他許多優(yōu)點(diǎn)。
系統(tǒng)提供與機(jī)械手、探針臺(tái)、電腦的連接口,可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。
?可供選擇的曲線